Academic Journal

Depth Profile Analysis of Polymerized Fluorine Compound on Photo-Resist Film with Angle-Resolved XPS

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Depth Profile Analysis of Polymerized Fluorine Compound on Photo-Resist Film with Angle-Resolved XPS / 角度分解XPS測定によるフォトレジスト膜表面重合フッ素化合物の深さ方向分析
المؤلفون: Syuhei OINAKA, Toshio KUBOTA, Yoshitoki IIJIMA, 久保田 俊夫, 追中 脩平, 飯島 善時
المصدر: X線分析の進歩 / Advances in X-Ray Chemical Analysis, Japan. 2013, 44:121
قاعدة البيانات: J-STAGE
الوصف
تدمد:09117806
27583651
DOI:10.57415/xshinpo.44.0_121