Academic Journal

Advanced Microbeam Analysis for Characterizing Structure of Surface and Interface for Various Material

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Advanced Microbeam Analysis for Characterizing Structure of Surface and Interface for Various Material / 材料表面・界面の構造を明らかにする新しい物理解析技術
المؤلفون: Satoshi HASHIMOTO, Tsuguo SAKURADA, 橋本 哲, 櫻田 委大
المصدر: 表面技術 / Journal of The Surface Finishing Society of Japan. 2015, 66(12):562
قاعدة البيانات: J-STAGE
الوصف
تدمد:09151869
18843409
DOI:10.4139/sfj.66.562