Academic Journal
Deep Convolutional AutoEncoderを用いた電子部品検査における画像生成による識別困難欠陥への対応
| العنوان: | Deep Convolutional AutoEncoderを用いた電子部品検査における画像生成による識別困難欠陥への対応 |
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| المؤلفون: | Kentaro Oi, Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Shunji Maeda, Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Tomohiro Tanaka, 前田 俊二, 大井 健太郎, 柳部 正樹, 森山 健, 田中 智裕, 西村 晃紀, 長谷 智紘 |
| المصدر: | Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2019, :412 |
| قاعدة البيانات: | J-STAGE |
| DOI: | 10.11522/pscjspe.2019S.0_412 |
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