Academic Journal

Peeling Analysis of ArF Resist Pattern on BARC by using AFM

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Peeling Analysis of ArF Resist Pattern on BARC by using AFM
المؤلفون: Akira Kawai, Kazutoshi Kurano, Takahiro Kishioka, Takuya Ohashi, Yoshiomi Hiroi
المصدر: Journal of Photopolymer Science and Technology. 2007, 20(6):825
قاعدة البيانات: J-STAGE
الوصف
تدمد:09149244
13496336
DOI:10.2494/photopolymer.20.825