Ge試料表面構造のXANAM像の取得

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	Ge試料表面構造のXANAM像の取得 / XANAM imaging of surface structures on Ge sample surfaces
المؤلفون:	Katsunori Makihara, Kiyotaka Asakura, Masaharu Nomura, Mitsuhisa Ikeda, Seiichi Miyazaki, Shingo Mukai, Shushi Suzuki, Syuntarou Fujimori, Wang Jae Chun, 向井慎吾, 宮﨑誠一, 朝倉清高, 池田弥央, 牧原克典, 田旺帝, 藤森俊太郎, 野村昌治, 鈴木秀士
المصدر:	JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2019, :1758
قاعدة البيانات:	J-STAGE

الوصف
تدمد:	24367613
DOI:	10.11470/jsapmeeting.2019.2.0_1758