Academic Journal

InAlN/AlN/GaN HEMT Grown on 200 mm Si Substrate by Fast Rotating Single-Wafer MOCVD Tool

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: InAlN/AlN/GaN HEMT Grown on 200 mm Si Substrate by Fast Rotating Single-Wafer MOCVD Tool / 枚葉式高速回転MOCVD装置による200mm Si基板上InAlN/AlN/GaN HEMTの成膜特性
المؤلفون: Hajime Nago, Hideshi Takahashi, Kiyotaka Miyano, Masayuki Tsukui, Yasushi Iyechika, 名古 肇, 宮野 清孝, 家近 泰, 津久井 雅之, 高橋 英志
المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2018, :3616
قاعدة البيانات: J-STAGE
الوصف
تدمد:24367613
DOI:10.11470/jsapmeeting.2018.1.0_3616