Academic Journal

1.0μm帯広帯域量子ドットリッジ導波路型LDの信頼性評価

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: 1.0μm帯広帯域量子ドットリッジ導波路型LDの信頼性評価 / Reliability test of broadband QD ridge-waveguide laser diode in 1.0μm
المؤلفون: Katsumi Yoshizawa, Kouichi Akahane, Naokatsu Yamamoto, Yoshinori Sawado, 吉沢 勝美, 山本 直克, 沢渡 義規, 赤羽 浩一
المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2018, :1312
قاعدة البيانات: J-STAGE
الوصف
تدمد:24367613
DOI:10.11470/jsapmeeting.2018.1.0_1312