Academic Journal
19aXK-7 Effect of Radiation Trapping on the Measurement of Electron Temperature and Density Using He I Line Intensity Ratio Method
| العنوان: | 19aXK-7 Effect of Radiation Trapping on the Measurement of Electron Temperature and Density Using He I Line Intensity Ratio Method / 19aXK-7 He Iの線スペクトル強度比を用いた電子温度・電子密度計測における輻射捕獲の影響(プラズマ分光・原子過程(領域内横断)(基礎実験・プラズマ源),領域2(プラズマ基礎・プラズマ科学・核融合プラズマ・プラズマ宇宙物理)) |
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| المؤلفون: | A. Okamoto, D. Yamasaki, S. Kado, S. Tanaka, T. Shikama, Y. Iida, 四寵 泰一, 山崎 大輔, 岡本 敦, 田中 知, 門 信一郎, 飯田 洋平 |
| المصدر: | Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2005, :94 |
| قاعدة البيانات: | J-STAGE |
| تدمد: | 21890803 |
|---|---|
| DOI: | 10.11316/jpsgaiyo.60.2.2.0_94_1 |