特集「超電導材料特性計測技術—マッピング技術の進展を中心として—」によせて

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	特集「超電導材料特性計測技術—マッピング技術の進展を中心として—」によせて
المؤلفون:	Masahiro OKAJI, 岡路正博
المصدر:	低温工学 / TEION KOGAKU (Journal of Cryogenics and Superconductivity Society of Japan). 2005, 40(8):318
قاعدة البيانات:	J-STAGE

الوصف
تدمد:	03892441 18800408
DOI:	10.2221/jcsj.40.318