GaAsのX線構造因子の精密測定

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	GaAsのX線構造因子の精密測定
المؤلفون:	中野正己, 久保田斉, 佐藤進一, 小林一介, 福原聡, 高間俊彦
المصدر:	日本結晶学会誌 / Nihon Kessho Gakkaishi. 1983, 25(Supplement):14-5
قاعدة البيانات:	J-STAGE

الوصف
تدمد:	03694585 18845576
DOI:	10.5940/jcrsj.25.Supplement_14P-5