Review of electrical characterisation of ultra-shallow junctions with micro four-point probe

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Review of electrical characterisation of ultra-shallow junctions with micro four-point probe
المؤلفون: Petersen D, Hansen O, Hansen T, Boggild P, Lin R, Kjaer D, Nielsen P, Clarysse T, Vandervorst W, Rosseel E, Bennett N, Cowern N
المصدر: Proceedings of INSIGHT, 26-29 April 2009
سنة النشر: 2009
المجموعة: Newcastle University Library ePrints Service
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: unknown
Relation: https://eprints.ncl.ac.uk/8028
الاتاحة: https://eprints.ncl.ac.uk/8028
رقم الانضمام: edsbas.E9E1A2F8
قاعدة البيانات: BASE