Academic Journal

Errors Mueller matrix measurement reference system Mueller matrix mapping biological layers ; Погрешности измерений референтных матриц Мюллера в системе Мюллер-матричного картографирования биологических слоев ; Похибки вимірювань референтних матриць Мюллера в системі Мюллер-матричного картографування біологічних шарів

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Errors Mueller matrix measurement reference system Mueller matrix mapping biological layers ; Погрешности измерений референтных матриц Мюллера в системе Мюллер-матричного картографирования биологических слоев ; Похибки вимірювань референтних матриць Мюллера в системі Мюллер-матричного картографування біологічних шарів
المؤلفون: Заболотна, Н. І.
المصدر: Optoelectronic Information-Power Technologies; Vol. 29 No. 1 (2015); 109-117 ; Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї; Том 29 № 1 (2015); 109-117 ; 2311-2662 ; 1681-7893
بيانات النشر: Vinnytsia National Technical University
سنة النشر: 2015
مصطلحات موضوعية: Mueller matrix elements, reference matrix system is a two-dimensional matrix mapping Muller, fazozsuvayucha plate with linear birefringence, error, statistical, correlation, fractal analysis, элементы матрицы Мюллера, референтная матрица, система двумерного Мюллер матричного картографирования, фазозсуваюча пластинка с линейным двулучепреломления, погрешности, статистический, корреляционный, фрактальный анализ, елементи матриці Мюллера, референтна матриця, система двовимірного Мюллер-матричного картографування, фазозсуваюча пластинка з лінійним двопроменезаломленням, похибки, статистичний, кореляційний, фрактальний аналіз
الوصف: Analysis of errors experimental determination values of the elements of the Mueller matrix layer structures with linear birefringence in the two-dimensional mapping Mueller-matrix system within the statistics, correlation and fractal approaches was presented in this article. ; В статье представлен анализ погрешностей експериментального определения значений элементов матрицы Мюллера слоя структуры с линейным двулучепреломлением в системе двумерного Мюллер-матричного картографирования в пределах статистического, корреляционного и фрактального подходов. ; В статті подано аналіз похибок експериментального визначення значень елементів референтної матриці Мюллера шару структури з лінійним двопроменезаломленням в системі двовимірного Мюллер-матричного картографування у межах статистичного, кореляційного і фрактального підходів.
نوع الوثيقة: article in journal/newspaper
وصف الملف: application/pdf
اللغة: Ukrainian
Relation: https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/409/407; https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/409
الاتاحة: https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/409
Rights: Авторське право (c) 2015 Оптико-електроннi iнформацiйно-енергетичнi технологiї
رقم الانضمام: edsbas.E8F9D132
قاعدة البيانات: BASE