Book
Attachment to Chapter 2
العنوان: | Attachment to Chapter 2 |
---|---|
المؤلفون: | Rumiantsev, Andrej |
المصدر: | On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond ; page 147-161 ; ISBN 9781003338994 |
بيانات النشر: | River Publishers |
سنة النشر: | 2022 |
نوع الوثيقة: | book part |
اللغة: | English |
ردمك: | 978-1-00-333899-4 1-00-333899-2 |
DOI: | 10.1201/9781003338994-13 |
الاتاحة: | http://dx.doi.org/10.1201/9781003338994-13 |
رقم الانضمام: | edsbas.CCED39B9 |
قاعدة البيانات: | BASE |
ردمك: | 9781003338994 1003338992 |
---|---|
DOI: | 10.1201/9781003338994-13 |