Academic Journal

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕСТОВЫХ НАБОРОВ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ АДРЕСНЫХ ЛИНИЙ ОЗУ

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕСТОВЫХ НАБОРОВ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ АДРЕСНЫХ ЛИНИЙ ОЗУ
المؤلفون: А. Иванюк А., А. Степанов В.
المصدر: Informatics; № 1(17) (2008); 84-94 ; Информатика; № 1(17) (2008); 84-94 ; 2617-6963 ; 1816-0301
بيانات النشر: UIIP NASB
سنة النشر: 2018
المجموعة: Informatics (E-Journal) / Информатика
الوصف: Предлагается подход к определению тестовых наборов для обнаружения неисправностей адресных линий оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Приведенные в статье теоретические и экспериментальные результаты показывают, что данный подход позволяет существенно сократить количество тестовых наборов, необходимых для обнаружения всех неисправностей адресных линий ОЗУ, по сравнению с существующими маршевыми алгоритмами.
نوع الوثيقة: article in journal/newspaper
وصف الملف: application/pdf
اللغة: Russian
Relation: https://inf.grid.by/jour/article/view/550/496; Сигаев, А. Операционные системы для встраиваемых применений / А. Сигаев. – М.: Компоненты и технологии, 2000. – 168 с.; Cockburn, B. Tutorial on Semiconductor Memory Testing / B. Cockburn // JETTA. – 1994. – Vol. 5, № 4. – P. 321–336.; Goor, A.G. Memory Tests and Their Fault Coverage into a New Perspective, Resulting into a New Test / A.G. Goor // Proc. of SEMICON/Korea’s Semiconductor Technical Symposium on Test Technology. – Seoul, Korea, 1996. – P. 67–75.; Проектирование самотестируемых СБИС: научное издание. В 2 т. / В.Н. Ярмолик; [и др.] – Минск: БГУИР, 2001. – Т. 2. – 163 c.; Неразрушающее тестирование запоминающих устройств / В.Н. Ярмолик [и др.]. – Минск: Бестпринт, 2005. – 230 с.; Van de Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice / A.J. van de Goor. – New York: John Wiley & Sons, 1991. – 512 p.; Van de Goor, A.J. Opens and Delay Faults in CMOS RAM Address Decoders / A.J. van de Goor // IEEE Transactions on Computers. – 2006. – Vol. 55, № 11. – P. 1630–1639.; Stroud, E.A. Designer’s Guide to Built-In Self-Test / E.A. Stroud. – Kluwer Academic Publishers, 2002. – 344 p.; Ma, S.A Comparison of Bridging Fault Simulation Methods / S. Ma, I. Shaik, R. Fetherston // Proc. IEEE International Test Conf. – Atlantic City, USA, 1999. – P. 587–595.; Garbolino, T. Detection, Localization and Identification of Interconnection Faults Using MISR Compactor / T. Garbolino, M. Kopec, K. Gucwa // Proc. of the 9th IEEE Workshop on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2006). – Prague, Czech Republic, 2006. – P. 230–231.; Иванюк, А.А. Определение тестовых наборов для обнаружения мостиковых неисправностей / А.А. Иванюк // Известия Национальной академии наук Беларуси. Сер. физ.-тех. наук. – 2006. – № 5. – С. 38–40.; https://inf.grid.by/jour/article/view/550
الاتاحة: https://inf.grid.by/jour/article/view/550
Rights: Authors who publish in this journal agree to the following:1. The authors retain the copyright for the work and grant the journal the right to first publish the work under the terms of the Creative Commons Attribution License, which allows others to redistribute the work with the obligatory retention of links to the authors of the original work and the original publication in this journal.2. The authors reserve the right to enter into separate contractual agreements regarding the non-exclusive distribution of the published version of the work (for example, placing it in the institute's repository, publication in a book), with reference to its original publication in this journal.3. Authors have the right to post their work on the Internet before and during the review process by this journal, as this may lead to productive discussion and more links to this work (see The Effect of Open Access). ; Авторы, публикующиеся в данном журнале, соглашаются со следующим:1. Авторы сохраняют за собой авторские права на работу и предоставляют журналу право первой публикации работы на условиях лицензии Creative Commons Attribution License, которая позволяет другим распространять данную работу с обязательным сохранением ссылок на авторов оригинальной работы и оригинальную публикацию в этом журнале.2. Авторы сохраняют право заключать отдельные контрактные договоренности, касающиеся неэксклюзивного распространения версии работы в опубликованном виде (например, размещения ее в институтском хранилище, публикации в книге), со ссылкой на ее оригинальную публикацию в данном журнале.3. Авторы имеют право размещать свою работу в сети Интернет до и во время процесса рассмотрения ее данным журналом, так как это может привести к продуктивному обсуждению и большему количеству ссылок на данную работу (см. The Effect of Open Access).
رقم الانضمام: edsbas.C8B4D12E
قاعدة البيانات: BASE