High temperature migration of thick film conductor

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: High temperature migration of thick film conductor
المؤلفون: Nagasaka, T., Ootani, Y., Oka, K., Miyairi, M., Naito, K.
المصدر: 2nd 1998 IEMT/IMC Symposium (IEEE Cat. No.98EX225) ; page 237-242
بيانات النشر: Organizing Committee 1998 IEMT/IMC Symposium
سنة النشر: 2002
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: unknown
DOI: 10.1109/iemtim.1998.704629
الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/iemtim.1998.704629
http://xplorestaging.ieee.org/ielx4/5678/15204/00704629.pdf?arnumber=704629
رقم الانضمام: edsbas.A856F222
قاعدة البيانات: BASE
الوصف
DOI:10.1109/iemtim.1998.704629