Dissertation/ Thesis

Développement d'une Approche Méthodologique de Gestion de l'Obsolescence des Composants pour la CEM ; Development of a Methodological Approach for the Management of Components Obsolescence for EMC

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Développement d'une Approche Méthodologique de Gestion de l'Obsolescence des Composants pour la CEM ; Development of a Methodological Approach for the Management of Components Obsolescence for EMC
المؤلفون: Chetouani, Saliha
المساهمون: Toulouse, INSA, Ben Dhia, Sonia, Boyer, Alexandre
سنة النشر: 2023
المجموعة: theses.fr
مصطلحات موضوعية: Compatibilité Électromagnétique, Obsolescence des Composants, Immunité Conduite, Paramètres S, Mesures Indirectes, Direct Power Injection (DPI), Electromagnetic Compatibility, Components Obsolescence, Conducted Immunity, S-Parameters, Indirect Measurements, 621.3
الوصف: Une simple comparaison de la durée de vie commerciale des composants électroniques (3 à 5 ans aujourd’hui) et celle des équipements et des systèmes électroniques (15 à 40 ans pour un avion par exemple) met en évidence la problématique inévitable de l’obsolescence rapide des composants. Pour rester conforme aux normes de compatibilité électromagnétique (CEM), tout changement d’un composant obsolète doit conduire les équipementiers à requalifier leurs produits pour prouver la non-régression de leurs performances CEM. La requalification d’un équipement induit des essais, des coûts et des délais très importants. Or, dans de nombreux cas, cette requalification complète n’est sans doute pas indispensable pour démontrer une non-régression (ou évaluer une non-conformité) mais les équipementiers ne disposent pas d’outils et de solutions pour en faire la preuve. L’objectif de ce travail de thèse est de proposer une approche méthodologique en vue de la gestion de l’obsolescence des composants dans des équipements industriels. Basée sur une approche de modélisation de type « boîte noire » de l’équipement, cette méthode expérimentale permet de décliner les contraintes CEM, en immunité conduite, partant du connecteur à l’entrée de l’équipement jusqu’au composant obsolète. Une fois cette fonction de transfert établie, un lien est envisagé entre le niveau d’immunité déterminé aux bornes du composant devant être remplacé et celui du nouveau composant. Ce lien permet de prévoir, à partir d’un essai unitaire sur le nouveau composant, le niveau de risque d’une non-conformité CEM de l’équipement à la suite de ce changement et l’évaluation de la marge d’erreur de l’estimation faite. Les solutions proposées sont basées sur des outils matériels standards, disponibles dans tous les laboratoires CEM. En outre, les outils logiciels nécessaires à leurs applications sont libres. Ainsi, cette approche doit constituer une solution rapide et moins coûteuse que des essais de qualification systématiques à chaque remplacement de composant. Les ...
نوع الوثيقة: thesis
اللغة: French
Relation: http://www.theses.fr/2023ISAT0037/document
الاتاحة: http://www.theses.fr/2023ISAT0037/document
Rights: Open Access ; http://purl.org/eprint/accessRights/OpenAccess
رقم الانضمام: edsbas.A82D11A6
قاعدة البيانات: BASE