التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: |
Coater/developer-based patterning techniques to improve tight pitches towards high-NA EUV |
المؤلفون: |
Kato, Kanzo, Huli, Lior, Grzeskowiak, Steven, Krawicz, Alexandra, Liu, Eric, Ko, Akiteru, Shimura, Satoru, Kawakami, Shinichiro, Dinh, Cong Q., Kitano, Takahiro, Nagahara, Seiji, Meli, Luciana, Seshadri, Indira, Burkhardt, Martin, Petrillo, Karen |
المساهمون: |
Burkhardt, Martin, van Lare, Claire |
المصدر: |
Optical and EUV Nanolithography XXXVII |
بيانات النشر: |
SPIE |
سنة النشر: |
2024 |
نوع الوثيقة: |
conference object |
اللغة: |
unknown |
DOI: |
10.1117/12.3010880 |
الاتاحة: |
http://dx.doi.org/10.1117/12.3010880 |
رقم الانضمام: |
edsbas.891FAAE7 |
قاعدة البيانات: |
BASE |