Academic Journal

Effect of In-Situ Silicon Carbon Nitride (SiCN) Cap Layer on Performances of AlGaN/GaN MISHFETs

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Effect of In-Situ Silicon Carbon Nitride (SiCN) Cap Layer on Performances of AlGaN/GaN MISHFETs
المؤلفون: Lee, Jae-Hoon, Im, Ki-Sik, Lee, Jung-Hee
المساهمون: Civil-Military Technology Cooperation Program
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 9, page 728-734 ; ISSN 2168-6734
بيانات النشر: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
سنة النشر: 2021
نوع الوثيقة: article in journal/newspaper
اللغة: unknown
DOI: 10.1109/jeds.2021.3100760
الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/jeds.2021.3100760
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6245494/9359727/09499231.pdf?arnumber=9499231
Rights: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode
رقم الانضمام: edsbas.848D9A22
قاعدة البيانات: BASE
الوصف
DOI:10.1109/jeds.2021.3100760