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Special Session: Reliability Assessment Recipes for DNN Accelerators
| العنوان: | Special Session: Reliability Assessment Recipes for DNN Accelerators |
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| المؤلفون: | Hasan Ahmadilivani, Mohammad, Bosio, Alberto, Deveautour, Bastien, Fernandes dos Santos, Fernando, David Guerrero Balaguera, Juan, Jenihhin, Maksim, Kritikakou, Angeliki, Limas Sierra, Robert, Pappalardo, Salvatore, Raik, Jaan, Esteban Rodriguez Condia, Josie, Sonza Reorda, Matteo, Taheri, Mahdi, Traiola, Marcello |
| المساهمون: | Tallinn University of Technology (TalTech), INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021) |
| المصدر: | VTS 2024 - IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-04572731 ; VTS 2024 - IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2024, Tempe AZ USA, United States. pp.131788 - 131828, ⟨10.1109/access.2022.3229767⟩ |
| بيانات النشر: | HAL CCSD IEEE |
| سنة النشر: | 2024 |
| المجموعة: | Université de Rennes 1: Publications scientifiques (HAL) |
| مصطلحات موضوعية: | deep neural networks, approximate computing, fault simulation, error emulation, reliability, resiliency assessment, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR] |
| جغرافية الموضوع: | Tempe AZ USA, United States |
| الوصف: | International audience ; Reliability assessment is mandatory to guarantee the correct behavior of DNN hardware accelerators in safety-critical applications. While fault injection stands out as a well-established, practical and robust method for reliability assessment, it is still a very time-consuming process. This paper contributes with three recipes for optimizing the efficiency of the reliability assessment: a) hybrid analytical and hierarchical FI-based reliability assessment for systolic-array-based DNN accelerators; b) mixing techniques for the reliability assessment of in-chip AI accelerators in GPUs; c) reliability assessment of DNN hardware accelerators through physical fault injection. The experimental results demonstrate the efficiency of the proposed methods applied to their target DNN HW accelerator platforms. |
| نوع الوثيقة: | conference object |
| اللغة: | English |
| DOI: | 10.1109/access.2022.3229767 |
| الاتاحة: | https://hal.science/hal-04572731 https://hal.science/hal-04572731v1/document https://hal.science/hal-04572731v1/file/VTS_24_Special_Session__Reliability_Assessment_Recipes-1.pdf https://doi.org/10.1109/access.2022.3229767 |
| Rights: | http://creativecommons.org/licenses/by/ ; info:eu-repo/semantics/OpenAccess |
| رقم الانضمام: | edsbas.7B9C6E37 |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1109/access.2022.3229767 |
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