Academic Journal

Toward defect-free fabrication of extreme ultraviolet photomasks

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Toward defect-free fabrication of extreme ultraviolet photomasks
المؤلفون: Qi, Zhengqing John, Rankin, Jed H., Lawliss, Mark, Badger, Karen D., Turley, Christina
المصدر: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS ; volume 15, issue 2, page 023502 ; ISSN 1932-5150
بيانات النشر: SPIE-Intl Soc Optical Eng
سنة النشر: 2016
نوع الوثيقة: article in journal/newspaper
اللغة: English
DOI: 10.1117/1.jmm.15.2.023502
الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1117/1.jmm.15.2.023502
http://nanolithography.spiedigitallibrary.org/article.aspx?articleid=2514145
رقم الانضمام: edsbas.720C1561
قاعدة البيانات: BASE
الوصف
DOI:10.1117/1.jmm.15.2.023502