Academic Journal

Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe
المؤلفون: Popa, Mihail
المصدر: Tradiţie şi inovare în cercetarea ştiinţifică, Ed. a 5-a: Materialele Colloquia Professorum din 10 octombrie 2014, Bălţi, Moldova, 10 octombrie 2014
بيانات النشر: Zenodo
سنة النشر: 2020
المجموعة: Zenodo
مصطلحات موضوعية: reflection spectrum, absorbtion spectrum, a semiconductor band gap width, spectrophotometer, spectru de reflecţie, spectrul de absorbţie, o lăţime de bandă de semiconductoare decalaj, spectrofotometru, USARB
الوصف: Spectroscopic technique is very useful for characterising semiconducting materials. We demonstrate here a new method for determination the energy band gap of thin fims from reflectance data. ; Popa, Mihail. Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe / Mihail Popa // Tradiţie şi inovare în cercetarea ştiinţifică, Ediţia a 5-a : Materialele Colloquia Professorum din 10 octombrie 2014. – Bălţi. – 2015. – P. 227-231.
نوع الوثيقة: article in journal/newspaper
اللغة: Romanian; Moldavian; Moldovan
Relation: https://zenodo.org/communities/libruniv_usarb; https://doi.org/10.5281/zenodo.3625732; https://doi.org/10.5281/zenodo.3625733; oai:zenodo.org:3625733
DOI: 10.5281/zenodo.3625733
الاتاحة: https://doi.org/10.5281/zenodo.3625733
Rights: info:eu-repo/semantics/openAccess ; Creative Commons Attribution 4.0 International ; https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode
رقم الانضمام: edsbas.6D704E3B
قاعدة البيانات: BASE