Conference
Analog testing using Zero-Crossing technique
| العنوان: | Analog testing using Zero-Crossing technique |
|---|---|
| المؤلفون: | Seireg, R., Al Emadi, N., Abdel Naby, M., El Refaie, O. |
| المصدر: | The 14th International Conference on Microelectronics, ; page 237-240 |
| بيانات النشر: | IEEE |
| سنة النشر: | 2004 |
| نوع الوثيقة: | conference object |
| اللغة: | unknown |
| DOI: | 10.1109/icm-02.2002.1161538 |
| الاتاحة: | http://dx.doi.org/10.1109/icm-02.2002.1161538 http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/8334/26026/01161538.pdf?arnumber=1161538 |
| رقم الانضمام: | edsbas.68318864 |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1109/icm-02.2002.1161538 |
|---|