Dissertation/ Thesis

Development of an integrated time-domain terahertz reflecto-transmissiometry process with optoelectronic excitation ; Développement d'un procédé intégré de réflecto-transmissiométrie temporelle térahertz à excitation optoélectronique

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Development of an integrated time-domain terahertz reflecto-transmissiometry process with optoelectronic excitation ; Développement d'un procédé intégré de réflecto-transmissiométrie temporelle térahertz à excitation optoélectronique
المؤلفون: Pederiva, Raphaël
المساهمون: Centre de Radiofréquences, Optique et Micro-nanoélectronique des Alpes (CROMA), Université Savoie Mont Blanc (USMB Université de Savoie Université de Chambéry )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP), Université Grenoble Alpes (UGA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Université Savoie Mont Blanc (USMB Université de Savoie Université de Chambéry ), Université Savoie Mont-Blanc, Jean-François Roux, Philippe Artillan
المصدر: https://cnrs.hal.science/tel-04844798 ; Sciences de l'ingénieur [physics]. Université Savoie Mont-Blanc, 2024. Français. ⟨NNT : ⟩.
بيانات النشر: CCSD
سنة النشر: 2024
المجموعة: Université Savoie Mont Blanc: HAL
مصطلحات موضوعية: Terahertz characterization, transmissometry, guided waves, spectroscopy, Hyperfréquences, THz, Spectroscopie dans le domaine temporel, Réflectométrie, Caractérisation de matériau, Indice de réfraction, Permittivité diélectrique, [SPI]Engineering Sciences [physics]
الوصف: Characterizing the dielectric properties of materials is a fundamental area of research, driven by the growing need to design more efficient and effective devices in many technological applications. For example, in the field of radio frequencies, precise knowledge of the refractive index is crucial for the design, simulation and optimization of electronic devices such as antennas, filters and integrated circuits. This thesis therefore focuses on the development of a method for characterizing the refractive index of materials using a time-domain approach. This technique uses a femtosecond pulsed laser combined with the use of ultrafast photoswitches for signal generation and detection. This approach allows the measurement over a frequency range from 50 to 550 GHz. The material under test, as well as the THz generator and detector, are assembled in an integrated device that is specifically relevant to measure small-volume materials. In this work, a complete model of the measurement system and the procedure for extracting the refractive index of the material are presented. An experimental implementation is also proposed, including characterization of the refractive index of glycerol droplets of around one hundred nanoliters. ; La caractérisation des propriétés diélectriques des matériaux est un domaine de recherche fondamental, motivé par la nécessité croissante de concevoir des dispositifs plus performants et efficaces dans de nombreuses applications technologiques. Par exemple, dans le domaine des radiofréquences, la connaissance précise de l’indice de réfraction est cruciale pour la conception, la simulation et l’optimisation des dispositifs électroniques tels que les antennes, les filtres ou encore les circuits intégrés. Ces travaux de thèse portent ainsi sur le développement de circuits THz intégrés et sur la mise au point d’une méthode de caractérisation de l’indice de réfraction de matériau via une approche temporelle. Cette technique utilise un laser impulsionnel femtoseconde combiné à l’utilisation de ...
نوع الوثيقة: doctoral or postdoctoral thesis
اللغة: French
الاتاحة: https://cnrs.hal.science/tel-04844798
https://cnrs.hal.science/tel-04844798v1/document
https://cnrs.hal.science/tel-04844798v1/file/Manuscript%20Raphael%20Pederiva%20version%20finale.pdf
Rights: info:eu-repo/semantics/OpenAccess
رقم الانضمام: edsbas.48E52A76
قاعدة البيانات: BASE