Automatic control and machine learning for semiconductor manufacturing: Review and challenges

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Automatic control and machine learning for semiconductor manufacturing: Review and challenges
المؤلفون: Susto, G. A., Pampuri, S., Schirru, A., De Nicolao, G., McLoone, S., Beghi, A.
المساهمون: Susto, G. A., Pampuri, S., Schirru, A., De Nicolao, G., Mcloone, S., Beghi, A.
سنة النشر: 2012
المجموعة: Padua Research Archive (IRIS - Università degli Studi di Padova)
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: English
Relation: ispartofbook:10th European Workshop on Advanced Control and Diagnosis; 10th European Workshop on Advanced Control and Diagnosis; http://hdl.handle.net/11577/3350597; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-84970889517
الاتاحة: http://hdl.handle.net/11577/3350597
رقم الانضمام: edsbas.40AA860
قاعدة البيانات: BASE