Academic Journal

RF critical field measurement of MgB 2 thin films coated on Nb

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: RF critical field measurement of MgB 2 thin films coated on Nb
المؤلفون: Tajima, T, Eremeev, G, Zou, G, Dolgashev, V, Martin, D, Nantista, C, Tantawi, S, Yoneda, C, Moeckly, B H, Campisi, I
المصدر: Journal of Physics: Conference Series ; volume 234, issue 1, page 012043 ; ISSN 1742-6596
بيانات النشر: IOP Publishing
سنة النشر: 2010
نوع الوثيقة: article in journal/newspaper
اللغة: unknown
DOI: 10.1088/1742-6596/234/1/012043
الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/234/1/012043
http://stacks.iop.org/1742-6596/234/i=1/a=012043/pdf
رقم الانضمام: edsbas.38FC7AD4
قاعدة البيانات: BASE
الوصف
DOI:10.1088/1742-6596/234/1/012043