Academic Journal
RF critical field measurement of MgB 2 thin films coated on Nb
العنوان: | RF critical field measurement of MgB 2 thin films coated on Nb |
---|---|
المؤلفون: | Tajima, T, Eremeev, G, Zou, G, Dolgashev, V, Martin, D, Nantista, C, Tantawi, S, Yoneda, C, Moeckly, B H, Campisi, I |
المصدر: | Journal of Physics: Conference Series ; volume 234, issue 1, page 012043 ; ISSN 1742-6596 |
بيانات النشر: | IOP Publishing |
سنة النشر: | 2010 |
نوع الوثيقة: | article in journal/newspaper |
اللغة: | unknown |
DOI: | 10.1088/1742-6596/234/1/012043 |
الاتاحة: | http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/234/1/012043 http://stacks.iop.org/1742-6596/234/i=1/a=012043/pdf |
رقم الانضمام: | edsbas.38FC7AD4 |
قاعدة البيانات: | BASE |
DOI: | 10.1088/1742-6596/234/1/012043 |
---|