Academic Journal
Nd3+-doped LiYF4 thin films prepared by pulsed laser deposition
| العنوان: | Nd3+-doped LiYF4 thin films prepared by pulsed laser deposition |
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| المؤلفون: | Garapon, C., Guy, S., Skasasian, S., Bensalah, A., Champeaux, Corinne, Brenier, R. |
| المساهمون: | Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents (LPCML), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Axe 2 : procédés de traitements de surface, Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface (SPCTS), Université de Limoges (UNILIM)-Ecole Nationale Supérieure de Céramique Industrielle (ENSCI)-Institut des Procédés Appliqués aux Matériaux (IPAM), Université de Limoges (UNILIM)-Université de Limoges (UNILIM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Ecole Nationale Supérieure de Céramique Industrielle (ENSCI)-Institut des Procédés Appliqués aux Matériaux (IPAM), Université de Limoges (UNILIM)-Université de Limoges (UNILIM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Physique de la Matière Condensée et Nanostructures (LPMCN), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| المصدر: | ISSN: 0947-8396. |
| بيانات النشر: | HAL CCSD Springer Verlag |
| سنة النشر: | 2008 |
| المجموعة: | HAL Lyon 1 (University Claude Bernard Lyon 1) |
| مصطلحات موضوعية: | PACS 81.15.Fg, 68.55.Jk, 78.55.Hx |
| الوصف: | International audience ; Nd:LiYF4 (YLF) thin films were prepared on CaF2 or YLF substrates by pulsed laser deposition, using a KrF laser for ablation of Nd:LiYF4 single-crystal targets. For 10 J/cm2, 450 ◦C and about 10−6 mbar pressure, transparent and crystalline, highly textured, YLF films were obtained, without oxyfluoride or YF3 contamination. High surface roughness is shown by optical microscopy and interface ion diffusion between film and substrate is evidenced by Rutherford backscattering spectroscopy. Fluorescence properties of the films are quite similar to those of bulk Nd:YLF crystal, which confirms the pure YLF composition and shows good conservation of Nd3+ ion doping rate. |
| نوع الوثيقة: | article in journal/newspaper |
| اللغة: | English |
| Relation: | hal-00299915; https://hal.science/hal-00299915 |
| DOI: | 10.1007/s00339-008-4436-z |
| الاتاحة: | https://hal.science/hal-00299915 https://doi.org/10.1007/s00339-008-4436-z |
| رقم الانضمام: | edsbas.301F4C06 |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1007/s00339-008-4436-z |
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