Conference
Terahertz transceiver microprobe for chip-inspection applications using optoelectronic time-domain reflectometry
| العنوان: | Terahertz transceiver microprobe for chip-inspection applications using optoelectronic time-domain reflectometry |
|---|---|
| المؤلفون: | Nagel, M., Matheisen, C., Sawallich, S., Dobritz, S., Kurz, H. |
| المصدر: | 2013 38th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) ; page 1-2 |
| بيانات النشر: | IEEE |
| سنة النشر: | 2013 |
| نوع الوثيقة: | conference object |
| اللغة: | unknown |
| DOI: | 10.1109/irmmw-thz.2013.6665732 |
| الاتاحة: | http://dx.doi.org/10.1109/irmmw-thz.2013.6665732 http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6654602/6665392/06665732.pdf?arnumber=6665732 |
| رقم الانضمام: | edsbas.10475898 |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1109/irmmw-thz.2013.6665732 |
|---|