Ultra Long-term Measurement Results of BTI-induced Aging Degradation on 7-nm Ring Oscillators

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Ultra Long-term Measurement Results of BTI-induced Aging Degradation on 7-nm Ring Oscillators
المؤلفون: Kazutoshi Kobayashi, Tomoharu Kishita, Hiroki Nakano, Jun Furuta, Mitsuhiko Igarashi, Shigetaka Kumashiro, Michitarou Yabuuchi, Hironori Sakamoto
المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
بيانات النشر: IEEE, 2023.
سنة النشر: 2023
DOI: 10.1109/irps48203.2023.10117873
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ebb38ceca20ce896f964da353eda85d6
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10117873
Rights: CLOSED
رقم الانضمام: edsair.doi...........ebb38ceca20ce896f964da353eda85d6
قاعدة البيانات: OpenAIRE
الوصف
DOI:10.1109/irps48203.2023.10117873