Scanning Electron Microscopy Observations of Fractal Pattern Formation in Al/Ge Bilayer Films

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	Scanning Electron Microscopy Observations of Fractal Pattern Formation in Al/Ge Bilayer Films
المؤلفون:	Miura, Yuzo, Doi, Minoru, Moritani, Tomokazu, Takagi, Makoto, Imura, Toru, Masuo, Yoshihiko
المصدر:	Materials Science Forum; March 2004, Vol. 449 Issue: 1 p445-448, 4p
مستخلص:	Not Available
قاعدة البيانات:	Supplemental Index

الوصف
تدمد:	02555476 16629752
DOI:	10.4028/www.scientific.net/MSF.449-452.445