-
1Academic Journal
المؤلفون: Yang, Binbin, Arumi Delgado, Daniel, Manich Bou, Salvador, Gómez Pau, Álvaro, Rodríguez Montañés, Rosa, Bargalló González, Mireia, Campabadal, Francesca, Fang, Liang
المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica, Computer storage devices, Computer security, RRAM, Secure non-volatile memories, Variability, Masking, Hardware security, Memòria d'accés aleatori, Seguretat informàtica
وصف الملف: 18 p.; application/pdf
Relation: https://www.mdpi.com/2079-9292/10/15/1842; Yang, B. [et al.]. Serial RRAM cell for secure bit concealing. "Electronics", 31 Juliol 2021, vol. 10, núm. 15, p. 1-18.; http://hdl.handle.net/2117/355112
-
2Electronic Resource
المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat, Yang, Binbin, Arumi Delgado, Daniel, Manich Bou, Salvador, Gómez Pau, Álvaro, Rodríguez Montañés, Rosa, Bargalló González, Mireia, Campabadal, Francesca, Fang, Liang
مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica, Computer storage devices, Computer security, RRAM, Secure non-volatile memories, Variability, Masking, Hardware security, Memòria d'accés aleatori, Seguretat informàtica, Article