-
1
المؤلفون: Costa, Manuel F. M., Teixeira, Vasco M. P.
المساهمون: Universidade do Minho
مصطلحات موضوعية: Microtopography, Stress, Rugometry, residual stress, thin films, Science & Technology
وصف الملف: application/pdf
Relation: 9780819485854; 0277-786X; www.spie.org doi: 10.1117/12.902212
الاتاحة: http://hdl.handle.net/1822/14667
-
2
المؤلفون: Costa, Manuel F. M., Vazquez-Dorrio, José B., Melo, Francisco Queirós de, Carneiro, Joaquim A. O.
المساهمون: Universidade do Minho
مصطلحات موضوعية: Rugometry, Microtopography, Stress
وصف الملف: application/pdf
Relation: 1742-6596; http://iopscience.iop.org/
الاتاحة: http://hdl.handle.net/1822/13020
-
3Academic Journal
المؤلفون: Manuel F. M. Costa
المصدر: Sensors, Vol 12, Iss 4, Pp 4399-4420 (2012)
مصطلحات موضوعية: microtopography, optical triangulation, non-invasive inspection, rugometry, Chemical technology, TP1-1185
وصف الملف: electronic resource
-
4
المساهمون: Universidade do Minho
مصطلحات موضوعية: History, Engineering, business.industry, 02 engineering and technology, Structural engineering, Deformation (meteorology), 021001 nanoscience & nanotechnology, Rugometry, Stress, 01 natural sciences, Computer Science Applications, Education, 010309 optics, Stress (mechanics), 0103 physical sciences, Circular section, Microtopography, 0210 nano-technology, business
وصف الملف: application/pdf
-
5Academic Journal
المؤلفون: Costa, Manuel F. M.
المساهمون: Universidade do Minho
مصطلحات موضوعية: Microtopography, Metrology, Optical triangulation, Nnon-invasive inspection, Rugometry, non-invasive inspection, Science & Technology
وصف الملف: application/pdf
Relation: 1424-8220; http://www.mdpi.com/journal/sensors
الاتاحة: http://hdl.handle.net/1822/18294