المؤلفون: Szmelter, Iwona

مصطلحات موضوعية: superposition de couches, van der Weyden (Rogier), Memling (Hans), Renaissance septentrionale, photographie en lumière visible, réflectrométrie infrarouge, photographie en fluorescence d’ultraviolets, proche et moyen infrarouge (PIR et MIR), spectroscopie ultraviolet-visible, mesure de la durée de vie de luminescence par comptage de photons uniques corrélés en temps (CPUCT), microscopie électronique à balayage (MEB), spectroscopie à dispersion d’énergie (SDE), spectroscopie à transformée de Fourier en proche et moyen infrarouge, fluorescence des rayons X (FRX), diffraction des rayons X (DFR), tomographie par cohérence optique (TCO), multilayer paintings techniques, Northern Renaissance, visible light photography, IR reflectrometry, UV fluorescence photography, X-ray radiography, MNIR, ultraviolet-visible (UV-VIS) reflectance and fluorescence spectroscopy, Measurement of luminescence decay lifetime with time-correlated single-photon counting (TCSPC), scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive spectrometry (EDS), Fourier Transform near- and mid-infrared reflectance spectroscopy, X-ray fluorescence (XRF), X-ray diffraction (XRD)

Relation: info:eu-repo/semantics/reference/issn/1254-7867; http://journals.openedition.org/techne/756

الاتاحة: http://journals.openedition.org/techne/756

المؤلفون: Iwona Szmelter

المصدر: Technè. :84-89

مصطلحات موضوعية: IR reflectrometry, superposition de couches, réflectrométrie infrarouge, media_common.quotation_subject, microscopie électronique à balayage (MEB), Judgement, Art history, Humanism, X-ray diffraction (XRD), Renaissance septentrionale, mesure de la durée de vie de luminescence par comptage de photons uniques corrélés en temps (CPUCT), Measurement of luminescence decay lifetime with time-correlated single-photon counting (TCSPC), van der Weyden (Rogier), fluorescence des rayons X (FRX), visible light photography, UV fluorescence photography, spectroscopie ultraviolet-visible, photographie en lumière visible, Composition (language), energy dispersive spectrometry (EDS), media_common, Painting, Northern Renaissance, Memling (Hans), MNIR, Interpretation (philosophy), diffraction des rayons X (DFR), ultraviolet-visible (UV-VIS) reflectance and fluorescence spectroscopy, Optical Coherent Tomography (OCT), General Medicine, Art, photographie en fluorescence d’ultraviolets, multilayer paintings techniques, spectroscopie à transformée de Fourier en proche et moyen infrarouge, language.human_language, proche et moyen infrarouge (PIR et MIR), tomographie par cohérence optique (TCO), Flemish, X-ray radiography, Fourier Transform near- and mid-infrared reflectance spectroscopy, Identity (philosophy), language, X-ray fluorescence (XRF), Identification (psychology), spectroscopie à dispersion d’énergie (SDE), scanning electron microscopy (SEM)

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::141c7f52747a1a3db8420c12afb8977f
https://doi.org/10.4000/techne.756

المؤلفون: Szmelter, Iwona

المصدر: Technè

مصطلحات موضوعية: superposition de couches, van der Weyden (Rogier), Memling (Hans), Renaissance septentrionale, photographie en lumière visible, réflectrométrie infrarouge, photographie en fluorescence d’ultraviolets, proche et moyen infrarouge (PIR et MIR), spectroscopie ultraviolet-visible, mesure de la durée de vie de luminescence par comptage de photons uniques corrélés en temps (CPUCT), microscopie électronique à balayage (MEB), spectroscopie à dispersion d’énergie (SDE), spectroscopie à transformée de Fourier en proche et moyen infrarouge, fluorescence des rayons X (FRX), diffraction des rayons X (DFR), tomographie par cohérence optique (TCO), multilayer paintings techniques, Northern Renaissance, visible light photography, IR reflectrometry, UV fluorescence photography, X-ray radiography, MNIR, ultraviolet-visible (UV-VIS) reflectance and fluorescence spectroscopy, Measurement of luminescence decay lifetime with time-correlated single-photon counting (TCSPC), scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive spectrometry (EDS), Fourier Transform near- and mid-infrared reflectance spectroscopy, X-ray fluorescence (XRF), X-ray diffraction (XRD)

Relation: 10670/1.9bxivo; http://journals.openedition.org/techne/756

الاتاحة: http://journals.openedition.org/techne/756