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1Academic Journal
المؤلفون: Zerarka, M., Rustichelli, V., Perrotin, O., Reynes, J.M., Trémouilles, David, Azzopardi, S., Serre, A., Bergeret, F., Allirand, L., Coccetti, F.
المساهمون: IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique, Alter Technology France (Alter Technology), Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie (LAAS-ISGE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), SAFRAN Group, Safran Tech, Ippon Innovation, Vitesco Technologies, Projet SiCRET (IRT Saint Exupery)
المصدر: ISSN: 0026-2714.
مصطلحات موضوعية: SiC, HTGB, GSS, Vth degradation, Vth drift, planar technologie, trench technologie, Modeling, Reliability, [SPI]Engineering Sciences [physics]
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2Academic Journal
المؤلفون: Zerarka, M., Rustichelli, V., Perrotin, O., Reynes, J.M., Trémouilles, David, Azzopardi, S., Serre, A., Bergeret, F., Allirand, L., Coccetti, F.
المساهمون: IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique, Alter Technology France (Alter Technology), Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie (LAAS-ISGE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), SAFRAN Group, Safran Tech, Ippon Innovation, Vitesco Technologies, Projet SiCRET (IRT Saint Exupery)
المصدر: ISSN: 0026-2714.
مصطلحات موضوعية: SiC, HTGB, GSS, Vth degradation, Vth drift, planar technologie, trench technologie, Modeling, Reliability, [SPI]Engineering Sciences [physics]