المساهمون: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв

مصطلحات موضوعية: вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, photoelastic microscope, the phase measurement, modulation polarimetry, displacement sensor, сенсор переміщення, фотопружний мікроскоп, повышение чувствительности, підвищення чутливості, модуляционная поляриметрия, сенсор перемещения, измерения фазы, the value of the birefringence, фотоупругий микроскоп, величина двопроменезаломлення, 681.723.2]:535.568](043.3) [621.382.049.774], sensitivity increase, величина двулучепреломления

وصف الملف: 22 с.; application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2635::739cdca01a814fffd1b01f3f637496e1
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

المؤلفون: Matyash, I. E., Minaylova, I. A., Mischuk, O. N., Oliinyk, Ostap Olegovych, Serdega, B. K., Tsyganok, B. A.

المصدر: Electronics and Communications; Том 19, № 2 (2014); 9-22
Электроника и Связь; Том 19, № 2 (2014); 9-22
Електроніка та Зв'язок; Том 19, № 2 (2014); 9-22

مصطلحات موضوعية: модуляционная поляриметрия, двулучепреломление, тепловой поток, термоупругость, фотоупругий микроскоп, модуляційна поляриметрія, двопроменезаломлення, тепловий потік, термопружність, фотопружний мікроскоп, modulation polarimetry, birefringence, heat flow, thermoelastisity, photoelastic microscope

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=scientific_p::84eab7805d8749901537e8d492a45ee8
http://elc.kpi.ua/old/article/view/142127

المؤلفون: Matyash, I. E., Minaylova, I. A., Mischuk, O. N., Oliinyk, O. O., Serdega, B. K., Tsyganok, B. A., Матяш, І. Є., Міняйлова, I. A., Miщук, О. М., Олійник, O. O., Сердега, Б. К., Циганок, Б. А., Матяш, И. Е., Миняйлова, И. А., Мищук, А. М., Олийник, О. О., Цыганок, Б. А.

المصدر: Electronics and Communications: научно-технический журнал

مصطلحات موضوعية: modulation polarimetry, birefringence, heat flow, thermoelastisity, photoelastic microscope, модуляційна поляриметрія, двопроменезаломлення, тепловий потік, термопружність, фотопружний мікроскоп, модуляционная поляриметрия, двулучепреломление, тепловой поток, термоупругость, фотоупругий микроскоп, 534.51, 539.3, 535.347

وصف الملف: С. 9-22; application/pdf

Relation: Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope / I. E. Matyash, I. A. Minaylova, O. N. Mischuk [et al.] // Electronics and Communications : научно-технический журнал. – 2014. – Т. 19, № 2(79). – С. 9–22. – Библиогр.: 20 назв.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/10114

الاتاحة: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/10114

المؤلفون: Олійник, Остап Олегович

المساهمون: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв

مصطلحات موضوعية: підвищення чутливості, величина двопроменезаломлення, вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, фотопружний мікроскоп, сенсор переміщення, sensitivity increase, the value of the birefringence, the phase measurement, modulation polarimetry, photoelastic microscope, displacement sensor, повышение чувствительности, величина двулучепреломления, измерения фазы, модуляционная поляриметрия, фотоупругий микроскоп, сенсор перемещения, 621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3)

وصف الملف: 22 с.; application/pdf

Relation: Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

الاتاحة: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

Additional Titles: Детектирование индуцированных тепловым потоком напряжений в твердом теле с помощью фотоупругого микроскопа
Детектування індукованих тепловим потоком напружень в твердому тілі за допомогою фотопружного мікроскопу

المؤلفون: Matyash, I. E.; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Minaylova, I. A., Mischuk, O. N., Oliinyk, Ostap Olegovych, Serdega, B. K., Tsyganok, B. A.

المصدر: Electronics and Communications; Том 19, № 2 (2014); 9 - 22; Электроника и Связь; Електроніка та Зв'язок; 2312-1807; 1811-4512

مصطلحات الفهرس: modulation polarimetry, birefringence, heat flow, thermoelastisity, photoelastic microscope, модуляционная поляриметрия, двулучепреломление, тепловой поток, термоупругость, фотоупругий микроскоп, модуляційна поляриметрія, двопроменезаломлення, тепловий потік, термопружність, фотопружний мікроскоп, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion

URL: http://elc.kpi.ua/old/article/view/142127
http://elc.kpi.ua/old/article/view/142127/149019
http://elc.kpi.ua/old/article/view/142127/149019