يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"electron and hole field emission"', وقت الاستعلام: 0.33s تنقيح النتائج
  1. 1
    Academic Journal
    Microscopic Quantum Transport Processes of Out‐of‐Plane Charge Flow in 2D Semiconductors Analyzed by a Fowler–Nordheim Tunneling Probe

    المؤلفون: Dong Hoon Shin, Duk Hyun Lee, Sang‐Jun Choi, Seonyeong Kim, Hakseong Kim, Kenji Watanabe, Takashi Taniguchi, Eleanor E. B. Campbell, Sang Wook Lee, Suyong Jung

    المصدر: Advanced Electronic Materials, Vol 9, Iss 6, Pp n/a-n/a (2023)

    مصطلحات موضوعية: 2D semiconductors, electron and hole field emission, Fowler‐Nordheim tunneling, Schottky‐barrier height, van der Waals vertical heterostructures, Electric apparatus and materials. Electric circuits. Electric networks, TK452-454.4, Physics, QC1-999

    وصف الملف: electronic resource

    Relation: https://doaj.org/toc/2199-160X

    URL الوصول: https://doaj.org/article/29df69ea78ef4a12ae3f6fca7bfd507d

    View record in DOAJ Full Text Finder

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء