يعرض 1 - 20 نتائج من 55 نتيجة بحث عن '"electrodynamic force"', وقت الاستعلام: 0.60s تنقيح النتائج
  1. 1
    Academic Journal
  2. 2
    Academic Journal
  3. 3
    Academic Journal
  4. 4
    Academic Journal

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: Болюх В. Ф. Особенности возбуждения линейного электромеханического преобразователя индукционного типа от источника переменного тока / В. Ф. Болюх, Ю. В. Кашанский, И. С. Щукин // Електротехніка і Електромеханіка = Electrical engineering & Electromechanics. – 2021. – № 1. – С. 3-9.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/51310

  5. 5
    Academic Journal
  6. 6
    Dissertation/ Thesis
  7. 7
  8. 8
    Academic Journal

    المؤلفون: Бутенко, Н. Е.

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: Бутенко Н. Е. Определение электродинамических сил в токоограничивающих реакторах тяговых подстанций / Н. Е. Бутенко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Машиноведение и САПР. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2013. – № 23 (996). – С. 35-39.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/4444

  9. 9
    Academic Journal
  10. 10
    Academic Journal

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: Баранов М. И. Усовершенствование электрофизической модели шаровой молнии с электронным ядром, микродипольной водной оболочкой и электродинамика ее электрических зарядов / М. И. Баранов // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2009. – № 2. – С. 57-60.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/11224

  11. 11
    Academic Journal

    وصف الملف: application/pdf

    Relation: Yang, Rui; Qian, Jiang; Feng, Philip X.‐l. (2020). "Electrodynamic Force, Casimir Effect, and Stiction Mitigation in Silicon Carbide Nanoelectromechanical Switches." Small 16(51): n/a-n/a.; https://hdl.handle.net/2027.42/163920; Small; E. D. Palik, Handbook of Optical Constants of Solids, Elsevier Inc., Amsterdam 1997.; P. T. B. Shaffer, Appl. Opt. 1971, 10, 1034.; W. R. L. Lambrecht, B. Segall, Phys. Rev. B 1994, 50, 10722.; M. T. H. Reid, A. W. Rodriguez, J. White, S. G. Johnson, Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 040401.; S. J. Rahi, T. Emig, N. Graham, R. L. Jaffe, M. Kardar, Phys. Rev. D 2009, 80, 085021.; A. P. McCauley, A. W. Rodriguez, J. D. Joannopoulos, S. G. Johnson, Phys. Rev. A 2010, 81, 012119.; J. R. Rodrigues, A. Gusso, F. S. S. Rosa, V. R. Almeida, Nanoscale 2018, 10, 3945.; K. F. Wang, B. L. Wang, Nanotechnology 2019, 30, 085502.; S. de Man, K. Heeck, R. J. Wijngaarden, D. Iannuzzi, Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 040402.; W. J. Kim, A. O. Sushkov, D. A. R. Dalvit, S. K. Lamoreaux, Phys. Rev. A 2010, 81, 022505.; H. B. Chan, V. A. Aksyuk, R. N. Kleinman, D. J. Bishop, F. Capasso, Science 2001, 291, 1941.; F. Intravaia, S. Koev, I. W. Jung, A. A. Talin, P. S. Davids, R. S. Decca, V. A. Aksyuk, D. A. R. Dalvit, D. López, Nat. Commun. 2013, 4, 2515.; C. Wagner, N. Fournier, V. G. Ruiz, C. Li, K. Mullen, M. Rohlfing, A. Tkatchenko, R. Temirov, F. S. Tautz, Nat. Commun. 2014, 5, 5568.; J. Munday, F. Capasso, V. A. Parsegian, Nature 2009, 457, 170.; A. W. Rodriguez, A. P. McCauley, D. Woolf, F. Capasso, J. D. Joannopoulos, S. G. Johnson, Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 160402.; J. Zou, Z. Marcet, A. W. Rodriguez, M. T. H. Reid, A. P. McCauley, I. I. Kravchenko, T. Lu, Y. Bao, S. G. Johnson, H. B. Chan, Nat. Commun. 2013, 4, 1845.; L. Tang, M. Wang, C. Y. Ng, M. Nikolic, C. T. Chan, A. W. Rodriguez, H. B. Chan, Nat. Photon. 2017, 11, 97.; S. Logothetidis, J. Petalas, J. Appl. Phys. 1996, 80, 1768.; G. L. Harris, Properties of Silicon Carbide, INSPEC, The Institution of Electrical Engineers, London 1995.; T. He, R. Yang, V. Ranganathan, S. Rajgopal, M. A. Tupta, S. Bhunia, M. Mehregany, P. X.- L. Feng, in Proc. IEEE Int. Electron Devices Meeting (IEDM 13), Washington, DC 2013, p. 108.; V. B. Svetovoy, Phys. Rev. B 2008, 77, 035439.; M. Sedighi, V. B. Svetovoy, W. H. Broer, G. Palasantzas, Phys. Rev. B 2014, 89, 195440.; M. Sedighi, V. B. Svetovoy, G. Palasantzas, Phys. Rev. B 2016, 93, 085434.; P. Ball, Nature 2007, 447, 772.; V. B. Svetovoy, A. V. Postnikov, I. V. Uvarov, F. I. Stepanov, G. Palasantzas, Phys. Rev. Appl. 2020, 13, 064057.; W. Yan, K. Komvopoulos, J. Appl. Phys. 1998, 84, 3617.; F. W. Delrio, M. P. de Boer, J. A. Knapp, E. D. Reedy Jr., P. J. Clews, M. L. Dunn, Nat. Mater. 2005, 4, 629.; K. Komvopoulos, Wear 1996, 200, 305.; F. Intravaia, S. Koev, I. W. Jung, A. A. Talin, P. S. Davids, R. S. Decca, V. A. Aksyuk, D. A. R. Dalvit, D. Lopez, Nat. Commun. 2013, 4, 2515.; M. L. Roukes, in Proc. IEEE Int. Electron Devices Meeting (IEDM 04), San Francisco, CA 2004, p. 539.; V. Pott, H. Kam, R. Nathanael, J. Jeon, E. Alon, T.- J. King Liu, Proc. IEEE 2010, 98, 2076.; Y. Lin, W. Li, Z. Ren, C. T.- C. Nguyen, in Proc. IEEE Int. Freq. Contr. Symp. (IFCS 08), Honolulu, HI 2008, p. 640.; Y. Hayamizu, T. Yamada, K. Mizuno, R. C. Davis, D. N. Futaba, M. Yumura, K. Hata, Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 289.; S. Chong, B. Lee, S. Mitra, R. T. Howe, H.- S. P. Wong, IEEE Trans. Elect. Dev. 2012, 59, 255.; P. X.- L. Feng, in Proc. IEEE Int. Conf. on IC Design & Tech. (ICICDT), Leuven, Belgium 2015, p. 1. https://doi.org/10.1109/ICICDT.2015.7165878; T.- H. Lee, S. Bhunia, M. Mehregany, Science 2010, 329, 1316.; X.- L. Feng, M. H. Matheny, C. A. Zorman, M. Mehregany, M. L. Roukes, Nano Lett. 2010, 10, 2891.; T. He, V. Ranganathan, R. Yang, S. Rajgopal, S. Bhunia, M. Mehregany, P. X.- L. Feng, in Proc. 17th Int. Conf. on Solid- State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers 13), Barcelona, Spain 2013, p. 669.; J. Yaung, L. Hutin, J. Jeon, T.- J. K. Liu, J. Microelectromech. Syst. 2014, 23, 198.; R. Yang, T. He, M. A. Tupta, C. Marcoux, P. Andreucci, L. Duraffourg, P. X.- L. Feng, J. Micromech. Microeng. 2015, 25, 095014.; J. N. Israelachvili, Intermolecular and Surface Forces, 3rd ed., Elsevier, Amsterdam 2011.; A. W. Rodriguez, F. Capasso, S. G. Johnson, Nat. Photonics 2011, 5, 211.; L. M. Woods, D. A. R. Dalvit, A. Tkatchenko, P. Rodriguez- Lopez, A. W. Rodriguez, R. Podgornik, Rev. Mod. Phys. 2016, 88, 045003.; K. Y. Fong, H.- K. Li, R. Zhao, S. Yang, Y. Wang, X. Zhang, Nature 2019, 576, 243.; S. Paladugu, A. Callegari, Y. Tuna, L. Barth, S. Dietrich, A. Gambassi, G. Volpe, Nat. Commun. 2016, 7, 11403.; F. Capasso, J. N. Munday, D. Iannuzzi, H. B. Chan, IEEE J. Sel. Top. Quant. 2007, 13, 400.; S. K. Lamoreaux, Rep. Prog. Phys. 2005, 68, 201.; M. Bordag, U. Mohideen, V. M. Mostepanenko, Phys. Rep. 2001, 353, 1.; N. G. V. Kampen, B. R. A. Nijboer, K. Schram, Phys. Lett. A 1968, 26, 307.; B. W. Ninham, V. A. Parsegian, G. H. Wiess, J. Stat. Phys. 1970, 2, 323.; T. Emig, R. L. Jaffe, M. Kardar, A. Scardicchio, Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 080403.

  12. 12
    Academic Journal
  13. 13
  14. 14
    Academic Journal

    المساهمون: Dolara, Alberto, Grimaccia, Francesco, Zuffetti, Silvio

    وصف الملف: STAMPA

    Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000402736000010; volume:7; issue:6; firstpage:901; lastpage:911; numberofpages:11; journal:IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING, AND MANUFACTURING TECHNOLOGY; http://hdl.handle.net/11311/1044738; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-85018493049; http://cpmt.ieee.org/transactions-on-cpmt.html

  15. 15
  16. 16
    Dissertation/ Thesis
  17. 17
  18. 18
  19. 19
    Academic Journal

    المساهمون: Krumin, Yu

    المصدر: Magn. Gidrodin. No. 3, 117-23 (Jul-Sep 1970).; Other Information: Orig. Receipt Date: 31-DEC-71

    وصف الملف: Medium: X

  20. 20
    Academic Journal

    المساهمون: Krumin, Yu

    المصدر: Magn. Gidrodin. No. 4, 109-14(Oct-Dec 1970).; Other Information: Orig. Receipt Date: 31-DEC-72

    وصف الملف: Medium: X