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1Academic Journal
المؤلفون: Wane, Sidina, Ferrero, Fabien, Dinh, Thanh Vinh, Bajon, Damienne, Duvillaret, Lionel, Gaborit, Gwenaël, Huard, Vincent
المساهمون: eV-Technologies, Laboratoire d'Electronique, Antennes et Télécommunications (LEAT), Université Nice Sophia Antipolis (1965 - 2019) (UNS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Côte d'Azur (UniCA), Kapteos SAS, Dolphin-Design
المصدر: ISSN: 2079-9292 ; Electronics ; https://hal.science/hal-03792358 ; Electronics, 2022, 11 (7), pp.1134. ⟨10.3390/electronics11071134⟩ ; file:///C:/Users/sclement/Downloads/electronics-11-01134-v2-1.pdf.
مصطلحات موضوعية: correlation technologies, secure quantum sensing, power-density, energy-density, entropy, interferometric synchronization, OTA-testing, electro-optical probing, EVM, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing
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2Academic Journal
المؤلفون: Boscaro, Anthony, Jacquir, S, Sanchez, K, Perdu, P, Binczak, Stéphane
المساهمون: Laboratoire Electronique, Informatique et Image UMR6306 (Le2i), Université de Bourgogne (UB)-École Nationale Supérieure d'Arts et Métiers (ENSAM), Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-AgroSup Dijon - Institut National Supérieur des Sciences Agronomiques, de l'Alimentation et de l'Environnement-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre National d’Études Spatiales Paris (CNES)
المصدر: ISSN: 0026-2714.
مصطلحات موضوعية: Failure analysis, Electro optical probing, Filtering, Wavelets, Signal to noise ratio improvement, [SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Relation: hal-01465725; https://hal.science/hal-01465725; https://hal.science/hal-01465725/document; https://hal.science/hal-01465725/file/ESREF_2015.pdf
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المؤلفون: Anthony Boscaro, Stéphane Binczak, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, Sabir Jacquir
المساهمون: Laboratoire Electronique, Informatique et Image ( Le2i ), Université de Bourgogne ( UB ) -AgroSup Dijon - Institut National Supérieur des Sciences Agronomiques, de l'Alimentation et de l'Environnement-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Centre National d'Etudes Spatiales ( CNES ), Laboratoire Electronique, Informatique et Image [UMR6306] (Le2i), Université de Bourgogne (UB)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Nationale Supérieure d'Arts et Métiers (ENSAM), Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université (HESAM)-HESAM Université (HESAM)-Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université (HESAM)-HESAM Université (HESAM)-AgroSup Dijon - Institut National Supérieur des Sciences Agronomiques, de l'Alimentation et de l'Environnement, Centre National d’Études Spatiales [Paris] (CNES), Centre National d’Études Spatiales ( CNES ), Centre National d'Études Spatiales [Toulouse] (CNES)
المصدر: Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, 〈10.1016/j.microrel.2015.06.100〉
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, Proceedings of the 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 55 (9-10), pp.1585-1591. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.100⟩
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, Proceedings of the 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 55 (9-10), pp.1585-1591. 〈10.1016/j.microrel.2015.06.100〉
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.100⟩مصطلحات موضوعية: Electro optical probing, Engineering, Failure analysis, Failure analysis, Electro optical probing, Filtering, Wavelets, Signal to noise ratio improvement, Measure (physics), [ SPI.SIGNAL ] Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing, Wavelets, Signal, Wavelet, Image mode, Signal-to-noise ratio, Electronic engineering, Waveform, Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality, Very-large-scale integration, Point-to-point, business.industry, Condensed Matter Physics, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [ SPI.TRON ] Engineering Sciences [physics]/Electronics, Signal to noise ratio improvement, business, Filtering, [SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing
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4Dissertation/ Thesis
المؤلفون: Rebaï, Mohamed Mehdi
Thesis Advisors: Bordeaux, Lewis, Dean, Darracq, Frédéric
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5Dissertation/ Thesis
المؤلفون: Rebaï, Mohamed Mehdi
المساهمون: Bordeaux, Lewis, Dean, Darracq, Frédéric
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6Dissertation/ Thesis
المؤلفون: Rebaï, Mohamed Mehdi
المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Bordeaux, Dean Lewis, Frédéric Darracq
المصدر: https://theses.hal.science/tel-01150670 ; Electronique. Université de Bordeaux, 2014. Français. ⟨NNT : 2014BORD0362⟩.
مصطلحات موضوعية: Electro Optical Probing, Failure analysis, Microelectronics, Laser-semiconductor interaction, Analyse de défaillance, Microélectronique, Interaction laser-semiconducteur, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Relation: NNT: 2014BORD0362; tel-01150670; https://theses.hal.science/tel-01150670; https://theses.hal.science/tel-01150670/document; https://theses.hal.science/tel-01150670/file/REBAI_MOHAMMED_MEHDI_2014.pdf