-
1Academic Journal
المؤلفون: Zhaoheng Xie, Suying Li, Kun Yang, Baixuan Xu, Qiushi Ren
المصدر: Sensors; Volume 16; Issue 6; Pages: 772
مصطلحات موضوعية: semiconductor detector, CZT, defective points, calibration, wobbling method
وصف الملف: application/pdf
Relation: https://dx.doi.org/10.3390/s16060772
الاتاحة: https://doi.org/10.3390/s16060772