المؤلفون: Skoupý, Radim

Thesis Advisors: Buršík, Jiří, Shimoni, Eyal, Krzyžánek, Vladislav

مصطلحات موضوعية: tloušťka krycí vrstvy, cryo-SEM, detector calibration, úbytek hmoty, pixelovaný STEM detektor, nízkonapěťový STEM, quantitative imaging, low-voltage STEM, CL, local sample thickness, kryo-SEM, lokální tloušťka vzorku, kalibrace detektoru, radiační poškození, SEM, korelativní zobrazování, pixelated STEM detector, mass-loss, kalibrace pomocí elektronového zrcadla, calibration-less qSTEM, radiation caused damage, correlative imaging, Monte Carlo simulace elektronového rozptylu, electron mirror calibration, qBSE, qSTEM, 4D STEM, coating layer thickness, bezkalibrační qSTEM, kvantitativní zobrazování, Monte Carlo simulation of electron scattering, EDX

الاتاحة: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-432610

المؤلفون: Skoupý, Radim

المساهمون: Krzyžánek, Vladislav, Buršík, Jiří, Shimoni, Eyal

مصطلحات موضوعية: nízkonapěťový STEM, SEM, kvantitativní zobrazování, qSTEM, qBSE, kalibrace detektoru, úbytek hmoty, radiační poškození, Monte Carlo simulace elektronového rozptylu, tloušťka krycí vrstvy, kalibrace pomocí elektronového zrcadla, pixelovaný STEM detektor, 4D STEM, bezkalibrační qSTEM, lokální tloušťka vzorku, EDX, CL, korelativní zobrazování, kryo-SEM, low-voltage STEM, quantitative imaging, detector calibration, mass-loss, radiation caused damage, Monte Carlo simulation of electron scattering, coating layer thickness, electron mirror calibration, pixelated STEM detector, calibration-less qSTEM, local sample thickness

وصف الملف: application/pdf; text/html

Relation: SKOUPÝ, R. Quantitative Imaging in Scanning Electron Microscope [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2020.; 130053; http://hdl.handle.net/11012/195804

الاتاحة: http://hdl.handle.net/11012/195804

المؤلفون: Krzyžánek, Vladislav, Buršík, Jiří, Shimoni, Eyal

مصطلحات الفهرس: nízkonapěťový STEM, SEM, kvantitativní zobrazování, qSTEM, qBSE, kalibrace detektoru, úbytek hmoty, radiační poškození, Monte Carlo simulace elektronového rozptylu, tloušťka krycí vrstvy, kalibrace pomocí elektronového zrcadla, pixelovaný STEM detektor, 4D STEM, bezkalibrační qSTEM, lokální tloušťka vzorku, EDX, CL, korelativní zobrazování, kryo-SEM, low-voltage STEM, quantitative imaging, detector calibration, mass-loss, radiation caused damage, Monte Carlo simulation of electron scattering, coating layer thickness, electron mirror calibration, pixelated STEM detector, calibration-less qSTEM, local sample thickness, correlative imaging, cryo-SEM, Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/195804

المؤلفون: Krzyžánek, Vladislav, Buršík, Jiří, Shimoni, Eyal

مصطلحات الفهرس: nízkonapěťový STEM, SEM, kvantitativní zobrazování, qSTEM, qBSE, kalibrace detektoru, úbytek hmoty, radiační poškození, Monte Carlo simulace elektronového rozptylu, tloušťka krycí vrstvy, kalibrace pomocí elektronového zrcadla, pixelovaný STEM detektor, 4D STEM, bezkalibrační qSTEM, lokální tloušťka vzorku, EDX, CL, korelativní zobrazování, kryo-SEM, low-voltage STEM, quantitative imaging, detector calibration, mass-loss, radiation caused damage, Monte Carlo simulation of electron scattering, coating layer thickness, electron mirror calibration, pixelated STEM detector, calibration-less qSTEM, local sample thickness, correlative imaging, cryo-SEM, Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/195804

المؤلفون: Krzyžánek, Vladislav, Buršík, Jiří, Shimoni, Eyal

مصطلحات الفهرس: nízkonapěťový STEM, SEM, kvantitativní zobrazování, qSTEM, qBSE, kalibrace detektoru, úbytek hmoty, radiační poškození, Monte Carlo simulace elektronového rozptylu, tloušťka krycí vrstvy, kalibrace pomocí elektronového zrcadla, pixelovaný STEM detektor, 4D STEM, bezkalibrační qSTEM, lokální tloušťka vzorku, EDX, CL, korelativní zobrazování, kryo-SEM, low-voltage STEM, quantitative imaging, detector calibration, mass-loss, radiation caused damage, Monte Carlo simulation of electron scattering, coating layer thickness, electron mirror calibration, pixelated STEM detector, calibration-less qSTEM, local sample thickness, correlative imaging, cryo-SEM, Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/195804

المؤلفون: Krzyžánek, Vladislav, Buršík, Jiří, Shimoni, Eyal, Skoupý, Radim

مصطلحات الفهرس: nízkonapěťový STEM, SEM, kvantitativní zobrazování, qSTEM, qBSE, kalibrace detektoru, úbytek hmoty, radiační poškození, Monte Carlo simulace elektronového rozptylu, tloušťka krycí vrstvy, kalibrace pomocí elektronového zrcadla, pixelovaný STEM detektor, 4D STEM, bezkalibrační qSTEM, lokální tloušťka vzorku, EDX, CL, korelativní zobrazování, kryo-SEM, low-voltage STEM, quantitative imaging, detector calibration, mass-loss, radiation caused damage, Monte Carlo simulation of electron scattering, coating layer thickness, electron mirror calibration, pixelated STEM detector, calibration-less qSTEM, local sample thickness, correlative imaging, cryo-SEM, Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/195804