المؤلفون: Fecko, Peter

Thesis Advisors: Boušek, Jaroslav, Pekárek, Jan

مصطلحات موضوعية: reactive ion etching, van der Waals force, biomimetika, Parylen C, adhezní struktury, atomic force microscopy (AFM), Parylene C, biomimetics, scanning electron microscopy (SEM), adhesion promotors, atomic layer deposition (ALD), contact angle measurement, měření kontaktního uhlu, leptání v XeF2, mikroskopie atomárních sil (AFM), leptání reaktivní plasmou, XeF2 etching, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), adheze gekona, van der Waalsovy síly, adhesive setae, depozice atomárních vrstev (ALD), gecko adhesion, adhezní promotéry

الاتاحة: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-400722

المؤلفون: Fecko, Peter

المساهمون: Pekárek, Jan, Boušek, Jaroslav

المصدر: FECKO, P. Mikrostruktury mimikující povrch tlapky gekona [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2019.

مصطلحات موضوعية: adheze gekona, adhezní struktury, biomimetika, van der Waalsovy síly, leptání reaktivní plasmou, leptání v XeF2, Parylen C, depozice atomárních vrstev (ALD), adhezní promotéry, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), měření kontaktního uhlu, mikroskopie atomárních sil (AFM), gecko adhesion, adhesive setae, biomimetics, van der Waals force, reactive ion etching, XeF2 etching, Parylene C, atomic layer deposition (ALD), adhesion promotors, scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement, atomic force microscopy (AFM)

وصف الملف: text/html

Relation: http://hdl.handle.net/11012/177763

الاتاحة: http://hdl.handle.net/11012/177763

المؤلفون: Pekárek, Jan, Boušek, Jaroslav, Fecko, Peter

مصطلحات الفهرس: adheze gekona, adhezní struktury, biomimetika, van der Waalsovy síly, leptání reaktivní plasmou, leptání v XeF2, Parylen C, depozice atomárních vrstev (ALD), adhezní promotéry, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), měření kontaktního uhlu, mikroskopie atomárních sil (AFM), gecko adhesion, adhesive setae, biomimetics, van der Waals force, reactive ion etching, XeF2 etching, Parylene C, atomic layer deposition (ALD), adhesion promotors, scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement, atomic force microscopy (AFM), Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/177763

المؤلفون: Pekárek, Jan, Boušek, Jaroslav, Fecko, Peter

مصطلحات الفهرس: adheze gekona, adhezní struktury, biomimetika, van der Waalsovy síly, leptání reaktivní plasmou, leptání v XeF2, Parylen C, depozice atomárních vrstev (ALD), adhezní promotéry, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), měření kontaktního uhlu, mikroskopie atomárních sil (AFM), gecko adhesion, adhesive setae, biomimetics, van der Waals force, reactive ion etching, XeF2 etching, Parylene C, atomic layer deposition (ALD), adhesion promotors, scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement, atomic force microscopy (AFM), Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/177763

المؤلفون: Pekárek, Jan, Boušek, Jaroslav

مصطلحات الفهرس: adheze gekona, adhezní struktury, biomimetika, van der Waalsovy síly, leptání reaktivní plasmou, leptání v XeF2, Parylen C, depozice atomárních vrstev (ALD), adhezní promotéry, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), měření kontaktního uhlu, mikroskopie atomárních sil (AFM), gecko adhesion, adhesive setae, biomimetics, van der Waals force, reactive ion etching, XeF2 etching, Parylene C, atomic layer deposition (ALD), adhesion promotors, scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement, atomic force microscopy (AFM), Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/177763

المؤلفون: Pekárek, Jan, Boušek, Jaroslav

مصطلحات الفهرس: adheze gekona, adhezní struktury, biomimetika, van der Waalsovy síly, leptání reaktivní plasmou, leptání v XeF2, Parylen C, depozice atomárních vrstev (ALD), adhezní promotéry, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), měření kontaktního uhlu, mikroskopie atomárních sil (AFM), gecko adhesion, adhesive setae, biomimetics, van der Waals force, reactive ion etching, XeF2 etching, Parylene C, atomic layer deposition (ALD), adhesion promotors, scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement, atomic force microscopy (AFM), Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/177763

المؤلفون: Pekárek, Jan, Boušek, Jaroslav

مصطلحات الفهرس: adheze gekona, adhezní struktury, biomimetika, van der Waalsovy síly, leptání reaktivní plasmou, leptání v XeF2, Parylen C, depozice atomárních vrstev (ALD), adhezní promotéry, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), měření kontaktního uhlu, mikroskopie atomárních sil (AFM), gecko adhesion, adhesive setae, biomimetics, van der Waals force, reactive ion etching, XeF2 etching, Parylene C, atomic layer deposition (ALD), adhesion promotors, scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement, atomic force microscopy (AFM), Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/177763

المؤلفون: Pekárek, Jan, Boušek, Jaroslav, Fecko, Peter

مصطلحات الفهرس: adheze gekona, adhezní struktury, biomimetika, van der Waalsovy síly, leptání reaktivní plasmou, leptání v XeF2, Parylen C, depozice atomárních vrstev (ALD), adhezní promotéry, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), měření kontaktního uhlu, mikroskopie atomárních sil (AFM), gecko adhesion, adhesive setae, biomimetics, van der Waals force, reactive ion etching, XeF2 etching, Parylene C, atomic layer deposition (ALD), adhesion promotors, scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement, atomic force microscopy (AFM), Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/177763