المؤلفون: Yáñez Canal, S., Lopera Gómez, C. M., Jaramillo Elorza, M. C.

المصدر: Ciencia En Desarrollo; Vol. 5 No. 2 (2014): Julio-Diciembre; 87-98 ; Ciencia en Desarrollo; Vol. 5 Núm. 2 (2014): Julio-Diciembre; 87-98 ; 2462-7658 ; 0121-7488

مصطلحات موضوعية: Competing risks regression, Cox’s regression model, Cumulative incidence function (CIF), Gray’s test, Kaplan-Meier, Log-rank test, Pepe & Mori’s test

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://revistas.uptc.edu.co/index.php/ciencia_en_desarrollo/article/view/3663/3250; https://revistas.uptc.edu.co/index.php/ciencia_en_desarrollo/article/view/3663; https://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/15148

الاتاحة: https://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/15148
https://revistas.uptc.edu.co/index.php/ciencia_en_desarrollo/article/view/3663
https://doi.org/10.19053/01217488.3663

المؤلفون: Obando-López, J. M. (Jorge Mario), Yáñez-Canal, S. (Sergio)

مصطلحات موضوعية: REI00027, ORGANIZACIÓN E INDUSTRIA, ORGANIZATION AND INDUSTRY, CALIDAD DEL PRODUCTO, PRODUCT QUALITY, DURACIÓN DEL PRODUCTO, PRODUCT LIFE, ANÁLISIS DE DATOS DE GARANTÍA, PROCESOS DE CONTEO, TASA DE INTENSIDAD, WARRANTY DATA ANALYSIS, COUNTING PROCESSES, INTENSITY RATE, CONFIABILIDAD, RELIABILITY

وصف الملف: 6 p.; application/pdf

Relation: https://repository.eia.edu.co/handle/11190/547; Obando, J. M. y Yáñez, S. Datos agregados y desagregados en el análisis de datos de garantía, Revista EIA, 4, 43-53. doi: http://repository.eia.edu.co/handle/11190/547

الاتاحة: https://repository.eia.edu.co/handle/11190/547

المؤلفون: Yáñez Canal, S, Lopera Gómez, C. M, Jaramillo Elorza, M. C

المصدر: Ciencia en Desarrollo, Volume: 5, Issue: 2, Pages: 87-97, Published: JUL 2014

مصطلحات موضوعية: Cox's regression model, Prueba de Pepe & Mori, Gray's test, Log-rank test, Kaplan-Meier, Regresión de Cox, Función de incidencia acumulada (FIA), Regresión de riesgos competitivos, Prueba log-rank, Cumulative incidence function (CIF), Competing risks regression, Prueba de Gray, Pepe & Mori's test

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URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______618::72179a22888b0abf21172212e88ee6d9
http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0121-74882014000200003&lng=en&tlng=en