المؤلفون: Traiola, Marcello, Pappalardo, Salvatore, Piri, Ali, Ruospo, Annachiara, Deveautour, Bastien, Sanchez, Ernesto, Bosio, Alberto, Saeedi, Sepide, Carpegna, Alessio, Göğebakan, Anıl Bayram, Magliano, Enrico, Savino, Alessandro

المساهمون: Traiola, Marcello, Pappalardo, Salvatore, Piri, Ali, Ruospo, Annachiara, Deveautour, Bastien, Sanchez, Ernesto, Bosio, Alberto, Saeedi, Sepide, Carpegna, Alessio, Göğebakan, Anıl Bayram, Magliano, Enrico, Savino, Alessandro

مصطلحات موضوعية: Fault tolerance, Cost, Fault tolerant system, Approximate computing, Artificial neural network, Computer architecture, Reliability, Neural Network, Tolerance, Artificial Intelligence

وصف الملف: ELETTRONICO

Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/isbn/979-8-3503-4932-0; ispartofbook:2024 IEEE European Test Symposium (ETS); IEEE European Test Symposium (ETS) 2024; firstpage:1; lastpage:10; numberofpages:10; https://hdl.handle.net/11583/2991037; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-85197558110; https://ieeexplore.ieee.org/document/10567290

الاتاحة: https://hdl.handle.net/11583/2991037
https://doi.org/10.1109/ets61313.2024.10567290
https://ieeexplore.ieee.org/document/10567290

المؤلفون: Barbareschi, Mario, Bosio, Alberto, Girard, Patrick, Deveautour, Bastien, Traiola, Marcello, Virazel, Arnaud

المساهمون: Dipartimento di Ingegneria Elettrica e delle Tecnologie dell'Informazione Napoli (DIETI), University of Naples Federico II = Università degli studi di Napoli Federico II, Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (LIRMM, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), Nantes Université (Nantes Univ), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)

المصدر: IEEE Workshop on Top Picks in VLSI Test and Reliability ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-04738424 ; IEEE Workshop on Top Picks in VLSI Test and Reliability, Nov 2024, San Diego, United States. pp.1-2

مصطلحات موضوعية: Approximate Computing Testing Reliability, Approximate Computing, Testing, Reliability, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

جغرافية الموضوع: San Diego, United States

الاتاحة: https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-04738424
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-04738424v1/document
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-04738424v1/file/TPTR_2024.pdf

المؤلفون: Chen, Junchao, Esposito, Giuseppe, Fernandes dos Santos, Fernando, Guerrero-Balaguera, Juan-David, Kritikakou, Angeliki, Krstic, Milos, Limas, Robert, Rodriguez Condia, Josie, E, Sonza Reorda, Matteo, Traiola, Marcello, Veronesi, Alessandro

المساهمون: IHP - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Delft University of Technology and University of Abdelmalek Saadi University, ANR-21-CE25-0008,FASY,Comportement temporel sous fautes pour des systèmes critiques sur multicoeurs(2021), European Project: 101008126,H2020-EU.1.4. - EXCELLENT SCIENCE - Research Infrastructures / H2020-EU.1.4.1.2. - Integrating and opening existing national and regional research infrastructures of European interest,10.3030/101008126,RADNEXT(2021)

المصدر: VLSI-SoC 2024 - IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration ; https://hal.science/hal-04736733 ; VLSI-SoC 2024 - IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, Delft University of Technology and University of Abdelmalek Saadi University, Oct 2024, Tanger, Morocco. pp.1-10, ⟨10.5286/ISIS.E.RB2300036)⟩

مصطلحات موضوعية: [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]

جغرافية الموضوع: Tanger, Morocco

Relation: info:eu-repo/grantAgreement//101008126/EU/RADiation facility Network for the EXploration of effects for indusTry and research/RADNEXT

الاتاحة: https://hal.science/hal-04736733
https://hal.science/hal-04736733v1/document
https://hal.science/hal-04736733v1/file/_VLSI_SoC_2024__Special_Session__Reliability_Assessment_of_Neural_Networks.pdf
https://doi.org/10.5286/ISIS.E.RB2300036

المؤلفون: Roquet, Lucas, Fernandes dos Santos, Fernando, Rech, Paolo, Traiola, Marcello, Sentieys, Olivier, Kritikakou, Angeliki

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Università degli Studi di Trento = University of Trento (UNITN), RADECS Association, ANR-21-CE25-0008,FASY,Comportement temporel sous fautes pour des systèmes critiques sur multicoeurs(2021), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021), European Project: 101008126,H2020-EU.1.4. - EXCELLENT SCIENCE - Research Infrastructures / H2020-EU.1.4.1.2. - Integrating and opening existing national and regional research infrastructures of European interest,10.3030/101008126,RADNEXT(2021)

المصدر: RADECS 2024 - Conference is an annual on RADiation Effects on Components and Systems ; https://hal.science/hal-04736704 ; RADECS 2024 - Conference is an annual on RADiation Effects on Components and Systems, RADECS Association, Sep 2024, Maspalomas, Canary Islands, Spain. pp.1-5

مصطلحات موضوعية: [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]

جغرافية الموضوع: Maspalomas, Canary Islands, Spain

Relation: info:eu-repo/grantAgreement//101008126/EU/RADiation facility Network for the EXploration of effects for indusTry and research/RADNEXT

الاتاحة: https://hal.science/hal-04736704
https://hal.science/hal-04736704v1/document
https://hal.science/hal-04736704v1/file/radecs_2024_maximals.pdf

المؤلفون: Traiola, Marcello, Kritikakou, Angeliki, Filip, Silviu-Ioan, Sentieys, Olivier

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Institut universitaire de France (IUF), Ministère de l'Education nationale, de l’Enseignement supérieur et de la Recherche (M.E.N.E.S.R.)

المصدر: ESWEEK 2024 - Embedded System Week ; https://hal.science/hal-04732044 ; ESWEEK 2024 - Embedded System Week, Sep 2024, Raleigh (NC), United States. pp.1-2

مصطلحات موضوعية: HLS, Machine learning, hardware accelerators, FPGA, [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]

جغرافية الموضوع: Raleigh (NC), United States

الاتاحة: https://hal.science/hal-04732044
https://hal.science/hal-04732044v1/document
https://hal.science/hal-04732044v1/file/ESWEEK-educational.pdf

المؤلفون: Nikiema, Romaric Pegdwende, Traiola, Marcello, Kritikakou, Angeliki

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Université de Rennes (UR), Institut universitaire de France (IUF), Ministère de l'Education nationale, de l’Enseignement supérieur et de la Recherche (M.E.N.E.S.R.), ANR-21-CE25-0008,FASY,Comportement temporel sous fautes pour des systèmes critiques sur multicoeurs(2021)

المصدر: DFT 2024 - 37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems ; https://hal.science/hal-04731794 ; DFT 2024 - 37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Oct 2024, Oxfordshire, United Kingdom. pp.1-1

مصطلحات موضوعية: Reliability, Compiler optimizations, Fault injection, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR], [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems

جغرافية الموضوع: Oxfordshire, United Kingdom

الاتاحة: https://hal.science/hal-04731794
https://hal.science/hal-04731794v1/document
https://hal.science/hal-04731794v1/file/DFT2024_specialSession%20%281%29.pdf

المؤلفون: Roquet, Lucas, Fernandes dos Santos, Fernando, Rech, Paolo, Traiola, Marcello, Sentieys, Olivier, Kritikakou, Angeliki

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Università degli Studi di Trento = University of Trento (UNITN), ANR-21-CE25-0008,FASY,Comportement temporel sous fautes pour des systèmes critiques sur multicoeurs(2021), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021), European Project: 899546,H2020-EU.1.3.4. - Increasing structural impact by co-funding activities,BIENVENUE(2020), European Project: 101008126,H2020-EU.1.4. - EXCELLENT SCIENCE - Research Infrastructures / H2020-EU.1.4.1.2. - Integrating and opening existing national and regional research infrastructures of European interest,10.3030/101008126,RADNEXT(2021)

المصدر: Design Automation Conference (DAC) ; https://hal.science/hal-04456702 ; Design Automation Conference (DAC), Jun 2024, San Francisco, United States

مصطلحات موضوعية: Reliability, Vision transformers, GPU, Radiation-induced effects, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]

جغرافية الموضوع: San Francisco, United States

Relation: info:eu-repo/grantAgreement//899546/EU/Welcoming highly-talented international post-docs in Brittany/BIENVENUE; info:eu-repo/grantAgreement//101008126/EU/RADiation facility Network for the EXploration of effects for indusTry and research/RADNEXT

الاتاحة: https://hal.science/hal-04456702
https://hal.science/hal-04456702v1/document
https://hal.science/hal-04456702v1/file/dac_2024_vits.pdf

المؤلفون: Hasan Ahmadilivani, Mohammad, Bosio, Alberto, Deveautour, Bastien, Fernandes dos Santos, Fernando, David Guerrero Balaguera, Juan, Jenihhin, Maksim, Kritikakou, Angeliki, Limas Sierra, Robert, Pappalardo, Salvatore, Raik, Jaan, Esteban Rodriguez Condia, Josie, Sonza Reorda, Matteo, Taheri, Mahdi, Traiola, Marcello

المساهمون: Tallinn University of Technology (TalTech), INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021)

المصدر: VTS 2024 - IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-04572731 ; VTS 2024 - IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2024, Tempe AZ USA, United States. pp.131788 - 131828, ⟨10.1109/access.2022.3229767⟩

مصطلحات موضوعية: deep neural networks, approximate computing, fault simulation, error emulation, reliability, resiliency assessment, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]

جغرافية الموضوع: Tempe AZ USA, United States

الاتاحة: https://hal.science/hal-04572731
https://hal.science/hal-04572731v1/document
https://hal.science/hal-04572731v1/file/VTS_24_Special_Session__Reliability_Assessment_Recipes-1.pdf
https://doi.org/10.1109/access.2022.3229767

المؤلفون: Gnad, Dennis, Krautter, Jonas, Kritikakou, Angeliki, Meyers, Vincent, Rech, Paolo, Esteban Rodriguez Condia, Josie, Ruospo, Annachiara, Sanchez, Ernesto, Fernandes dos Santos, Fernando, Sentieys, Olivier, Tahoori, Mehdi, B., Tessier, Russell, Traiola, Marcello

المساهمون: Karlsruhe Institute of Technology = Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Università degli Studi di Trento = University of Trento (UNITN), Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), Department of Electrical and Computer Engineering - University of Massachusetts (ECE), University of Massachusetts Amherst (UMass Amherst), University of Massachusetts System (UMASS)-University of Massachusetts System (UMASS), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021)

المصدر: ETS 2024 - 29th IEEE European Test Symposium ; https://hal.science/hal-04577494 ; ETS 2024 - 29th IEEE European Test Symposium, May 2024, The Hague, Netherlands. pp.1-10

مصطلحات موضوعية: security, AI accelerators, machine learning, neural networks, hardware reliability, fault tolerance, hardware security, side-channel attacks, [INFO]Computer Science [cs], [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR], [INFO.INFO-CR]Computer Science [cs]/Cryptography and Security [cs.CR]

جغرافية الموضوع: The Hague, Netherlands

الاتاحة: https://hal.science/hal-04577494
https://hal.science/hal-04577494v1/document
https://hal.science/hal-04577494v1/file/Reliability_and_Security_of_AI_Hardware_ETS24_specialSession.pdf

المؤلفون: Barbareschi, Mario, Barone, Salvatore, Bosio, Alberto, Traiola, Marcello

المساهمون: University of Naples Federico II = Università degli studi di Napoli Federico II, INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)

المصدر: Design and Applications of Emerging Computer Systems ; https://inria.hal.science/hal-04396685 ; Design and Applications of Emerging Computer Systems, Springer Nature Switzerland, pp.383-420, 2024, ⟨10.1007/978-3-031-42478-6_15⟩

مصطلحات موضوعية: Design space exploration, Multi-objective optimization, Discrete cosine transform, Approximate circuits, Approximate neural networks, Approximate decision trees, Approximate computing, Genetic algorithm, [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]

الاتاحة: https://inria.hal.science/hal-04396685
https://inria.hal.science/hal-04396685v1/document
https://inria.hal.science/hal-04396685v1/file/SpringerBook___Design_and_Applications_of_Emerging_Computer_Systems.pdf
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42478-6_15

المؤلفون: Fernandes dos Santos, Fernando, Traiola, Marcello, Kritikakou, Angeliki

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), INRIA/IRISA Rennes, ANR-21-CE25-0008,FASY,Comportement temporel sous fautes pour des systèmes critiques sur multicoeurs(2021), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021), European Project: 101008126,H2020-EU.1.4. - EXCELLENT SCIENCE - Research Infrastructures / H2020-EU.1.4.1.2. - Integrating and opening existing national and regional research infrastructures of European interest,10.3030/101008126,RADNEXT(2021)

المصدر: IOLTS 2024 - 30th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design ; https://hal.science/hal-04638468 ; IOLTS 2024 - 30th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, INRIA/IRISA Rennes, Jul 2024, Rennes, France. pp.1-8

مصطلحات موضوعية: [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]

جغرافية الموضوع: Rennes, France

Relation: info:eu-repo/grantAgreement//101008126/EU/RADiation facility Network for the EXploration of effects for indusTry and research/RADNEXT

الاتاحة: https://hal.science/hal-04638468
https://hal.science/hal-04638468v1/document
https://hal.science/hal-04638468v1/file/iolts_2024.pdf

المؤلفون: Bosio, Alberto, Germiniani, Samuele, Pravadelli, Graziano, Traiola, Marcello

المساهمون: Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Lyon, Università degli studi di Verona = University of Verona (UNIVR), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)

المصدر: ISSN: 0923-8174 ; EISSN: 1573-0727.

مصطلحات موضوعية: Approximate computing, Assertion-based verification, Assertion mining, Fault injection, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR], [INFO]Computer Science [cs]

الاتاحة: https://hal.science/hal-04726657
https://hal.science/hal-04726657v1/document
https://hal.science/hal-04726657v1/file/AxC_JETTA___second_round.pdf
https://doi.org/10.1007/s10836-024-06115-9

المؤلفون: Traiola, Marcello, dos Santos, Fernando Fernandes, Rech, Paolo, Cazzaniga, Carlo, Sentieys, Olivier, Kritikakou, Angeliki

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Università degli Studi di Trento = University of Trento (UNITN), STFC Rutherford Appleton Laboratory (RAL), Science and Technology Facilities Council (STFC), Institut universitaire de France (IUF), Ministère de l'Education nationale, de l’Enseignement supérieur et de la Recherche (M.E.N.E.S.R.), ANR-21-CE25-0008,FASY,Comportement temporel sous fautes pour des systèmes critiques sur multicoeurs(2021), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021), European Project: 101008126,H2020-EU.1.4. - EXCELLENT SCIENCE - Research Infrastructures / H2020-EU.1.4.1.2. - Integrating and opening existing national and regional research infrastructures of European interest,10.3030/101008126,RADNEXT(2021), European Project: 899546,H2020-EU.1.3.4. - Increasing structural impact by co-funding activities,BIENVENUE(2020)

المصدر: ISSN: 0018-9499.

مصطلحات موضوعية: Neural Networks, High-Level Synthesis HLS, FPGA - field-Programmable gate array, Reliability, Radiation testing, [INFO]Computer Science [cs], [INFO.INFO-AI]Computer Science [cs]/Artificial Intelligence [cs.AI], [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR], [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems

Relation: info:eu-repo/grantAgreement//101008126/EU/RADiation facility Network for the EXploration of effects for indusTry and research/RADNEXT; info:eu-repo/grantAgreement//899546/EU/Welcoming highly-talented international post-docs in Brittany/BIENVENUE

الاتاحة: https://inria.hal.science/hal-04514579
https://inria.hal.science/hal-04514579v1/document
https://inria.hal.science/hal-04514579v1/file/TNS2024_HLS.pdf
https://doi.org/10.1109/TNS.2024.3377596

المؤلفون: Ruospo, Annachiara, Sanchez, Ernesto, Matana Luza, Lucas, Dilillo, Luigi, Traiola, Marcello, Bosio, Alberto

المساهمون: Ruospo, Annachiara, Sanchez, Ernesto, Matana Luza, Luca, Dilillo, Luigi, Traiola, Marcello, Bosio, Alberto

وصف الملف: ELETTRONICO

Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000935665700011; volume:56; issue:2; firstpage:57; lastpage:66; numberofpages:10; journal:COMPUTER; http://hdl.handle.net/11583/2972644; https://ieeexplore.ieee.org/document/10042090

الاتاحة: http://hdl.handle.net/11583/2972644
https://doi.org/10.1109/MC.2022.3217841
https://ieeexplore.ieee.org/document/10042090

المؤلفون: Nikiema, Pegdwende, Romaric, Palumbo, Alessandro, Aasma, Allan, Cassano, Luca, Kritikakou, Angeliki, Kulmala, Ari, Lukkarila, Jari, Ottavi, Marco, Psiakis, Rafail, Traiola, Marcello

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Politecnico di Milano Milan (POLIMI), Technology Innovation Institute (TII), Institut universitaire de France (IUF), Ministère de l'Education nationale, de l’Enseignement supérieur et de la Recherche (M.E.N.E.S.R.), Università degli Studi di Roma Tor Vergata Roma, Italia = University of Rome Tor Vergata Rome, Italy = Université de Rome Tor Vergata Rome, Italie, University of Twente, ANR-21-CE25-0008, French National Research Agency (ANR) through the FASY research project, ANR-21-CE25-0008,FASY,Comportement temporel sous fautes pour des systèmes critiques sur multicoeurs(2021)

المصدر: IOLTS 2023 – IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design ; https://hal.science/hal-04685617 ; IOLTS 2023 – IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, Jul 2023, Crete, Greece. ⟨10.1109/iolts59296.2023.10224862⟩

مصطلحات موضوعية: RISC-V, OpenTitan, RoT, Secure Boot, Post-Quantum Cryptography, PQC, Security, Safety, CRYSTALS-Dilithium, Lockstep Dual Core, Recovery, Security Checker, Hardware Trojan Horses, Microarchitectural Side-Channel Attacks, [INFO.INFO-CR]Computer Science [cs]/Cryptography and Security [cs.CR]

جغرافية الموضوع: Crete, Greece

الاتاحة: https://hal.science/hal-04685617
https://hal.science/hal-04685617v1/document
https://hal.science/hal-04685617v1/file/Towards_Dependable_RISC-V_Cores_for_Edge_Computing_Devices.pdf
https://doi.org/10.1109/iolts59296.2023.10224862

المؤلفون: Piri, Ali, Pappalardo, Salvatore, Barone, Salvatore, Barbareschi, Mario, Deveautour, Bastien, Traiola, Marcello, O'Connor, Ian, Bosio, Alberto

المساهمون: Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), University of Naples Federico II = Università degli studi di Napoli Federico II, INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021)

المصدر: DSN-W 2023 - 53rd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops ; https://inria.hal.science/hal-04399159 ; DSN-W 2023 - 53rd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops, Jun 2023, Porto, Portugal. pp.179-182, ⟨10.1109/DSN-W58399.2023.00050⟩

مصطلحات موضوعية: Approximate Computing, Energy Efficiency, Embedded Systems, Input-Aware Approximation, [INFO]Computer Science [cs], [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR], [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems, [INFO.INFO-IA]Computer Science [cs]/Computer Aided Engineering

جغرافية الموضوع: Porto, Portugal

Time: Porto, Portugal

الاتاحة: https://inria.hal.science/hal-04399159
https://inria.hal.science/hal-04399159v1/document
https://inria.hal.science/hal-04399159v1/file/AxC_2023.pdf
https://doi.org/10.1109/DSN-W58399.2023.00050

المؤلفون: Traiola, Marcello, Kritikakou, Angeliki, Sentieys, Olivier

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021)

المصدر: DATE 2023 – 26th IEEE/ACM Design, Automation and Test in Europe ; https://inria.hal.science/hal-03887681 ; DATE 2023 – 26th IEEE/ACM Design, Automation and Test in Europe, Apr 2023, Antwerp, Belgium. pp.1-2

مصطلحات موضوعية: Reliability Analysis, Fault Tolerance, Machine Learning, Neural Networks, [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems, [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR], [INFO.INFO-LG]Computer Science [cs]/Machine Learning [cs.LG]

جغرافية الموضوع: Antwerp, Belgium

الاتاحة: https://inria.hal.science/hal-03887681
https://inria.hal.science/hal-03887681v1/document
https://inria.hal.science/hal-03887681v1/file/DATE23_ExtendedAbstract.pdf

المؤلفون: Traiola, Marcello, Kritikakou, Angeliki, Sentieys, Olivier

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), ANR-21-CE24-0015,RE-TRUSTING,Architectures matérielles fiable pour l'Intelligence Artificielle de confiance(2021)

المصدر: ETS 2023 - IEEE European Test Symposium ; https://hal.science/hal-04087375 ; ETS 2023 - IEEE European Test Symposium, May 2023, Venise, Italy. pp.1-6

مصطلحات موضوعية: Reliability Analysis, Fault Tolerance, Machine Learning, Neural Networks, [INFO]Computer Science [cs], [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems

جغرافية الموضوع: Venise, Italy

الاتاحة: https://hal.science/hal-04087375
https://hal.science/hal-04087375v1/document
https://hal.science/hal-04087375v1/file/ETS23_camera_ready.pdf

المؤلفون: Traiola, Marcello, Fernandes Dos Santos, Fernando, Sentieys, Olivier, Kritikakou, Angeliki

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)

المصدر: NSREC 2023 - IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference ; https://inria.hal.science/hal-04113282 ; NSREC 2023 - IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference, Jul 2023, Kansas City (US), United States. pp.1-5

مصطلحات موضوعية: FPGA - field-Programmable gate array, Neural networks, Reliability, Radiations, High-Level Synthesis, Hardware Accelerators, [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems, [INFO]Computer Science [cs]

جغرافية الموضوع: Kansas City (US), United States

الاتاحة: https://inria.hal.science/hal-04113282
https://inria.hal.science/hal-04113282v2/document
https://inria.hal.science/hal-04113282v2/file/G_115_Traiola_2023-02-04_01_32_37%20%281%29.pdf

المؤلفون: Nikiema, Pegdwende Romaric, Kritikakou, Angeliki, Traiola, Marcello, Sentieys, Olivier

المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)

المصدر: DSN 2023 - 53rd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks ; https://hal.science/hal-04397673 ; DSN 2023 - 53rd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks, Jun 2023, Porto, Portugal. pp.224-229, ⟨10.1109/DSN-S58398.2023.00062⟩

مصطلحات موضوعية: Transient faults, Reliability, Real-time, Fault tolerance, RISC-V, High level Synthesis, [INFO]Computer Science [cs]

جغرافية الموضوع: Porto, Portugal

Time: Porto, Portugal

الاتاحة: https://hal.science/hal-04397673
https://hal.science/hal-04397673v1/document
https://hal.science/hal-04397673v1/file/SELSE_Romaric.pdf
https://doi.org/10.1109/DSN-S58398.2023.00062