المؤلفون: Guerret-Piecourt, Christelle, Bec, Sandrine, Treheux, Daniel

المصدر: Comptes Rendus de l Acad\'emie des Sciences - Series IV - Physics t2, S\'erie IV (05/07/2001) 761-774

مصطلحات موضوعية: Physics - Classical Physics

URL الوصول: http://arxiv.org/abs/0707.2649

المؤلفون: Guerret-Piecourt, Christelle, Bec, Sandrine, Ségault, Frédéric, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel, Tonck, André

المصدر: The European Physical Journal : Applied Physics 28 (2004) 65-72

مصطلحات موضوعية: Physics - Classical Physics

URL الوصول: http://arxiv.org/abs/0704.2026

المؤلفون: Hattali, Lamine, Mesrati, Nadir, Tréheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IFP Energies nouvelles (IFPEN), Laboratoire Science et Génie des matériaux, École nationale polytechnique Alger, Algérie (ENP), IFP Energies nouvelles

المصدر: ISSN: 0955-2219.

مصطلحات موضوعية: Joining, Toughness, Residual stress, Al2O3, Dielectric properties, [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, [SPI.MECA.MEMA]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Mechanics of materials [physics.class-ph], [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph]

Relation: hal-00657384; https://hal.science/hal-00657384; https://hal.science/hal-00657384/document; https://hal.science/hal-00657384/file/Electric_charge_trapping_residual_stresses.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00657384
https://hal.science/hal-00657384/document
https://hal.science/hal-00657384/file/Electric_charge_trapping_residual_stresses.pdf

المؤلفون: Hattali, Lamine, Valette, Stéphane, Ropital, Francois, Mesrati, Nadir, Tréheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IFP Energies nouvelles (IFPEN), IFP Energies nouvelles

المصدر: ISSN: 0022-2461.

مصطلحات موضوعية: [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, [SPI.MECA.MEMA]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Mechanics of materials [physics.class-ph], [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph]

Relation: hal-00658195; https://hal.science/hal-00658195; https://hal.science/hal-00658195/document; https://hal.science/hal-00658195/file/Calculation_and_experimental_determination_of_the_residual_stress.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00658195
https://hal.science/hal-00658195/document
https://hal.science/hal-00658195/file/Calculation_and_experimental_determination_of_the_residual_stress.pdf
https://doi.org/10.1007/s10853-010-4502-8

المؤلفون: Hattali, Lamine, Valette, Stéphane, Ropital, Francois, Mesrati, Nadir, Tréheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IFP Energies nouvelles (IFPEN), IFP Energies nouvelles

المصدر: ISSN: 1022-6680.

مصطلحات موضوعية: solid state bonding, residual stress, X-ray diffraction, indentation, FEA simulation, [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, [SPI.MECA]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]

Relation: hal-00658250; https://hal.science/hal-00658250; https://hal.science/hal-00658250/document; https://hal.science/hal-00658250/file/FEM_CALCULATIONS_AND_EXPERIMENTAL_DETERMINATION_OF.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00658250
https://hal.science/hal-00658250/document
https://hal.science/hal-00658250/file/FEM_CALCULATIONS_AND_EXPERIMENTAL_DETERMINATION_OF.pdf
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMR.89-91.238

المؤلفون: Hattali, Lamine, Valette, Stéphane, Ropital, Francois, Mesrati, Nadir, Tréheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IFP Energies nouvelles (IFPEN)

المصدر: ISSN: 0022-2461.

مصطلحات موضوعية: [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, [SPI.MECA.MEMA]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Mechanics of materials [physics.class-ph], [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph]

Relation: hal-00658202; https://hal.science/hal-00658202; https://hal.science/hal-00658202/document; https://hal.science/hal-00658202/file/Effect_of_thermal_residual_stresses_on_the_strength_for_both_alumina-Ni-alumina_and_alumina-Ni-nickel_alloy_bimaterials_Hattali_JMS_09.pdf

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https://doi.org/10.1007/s10853-009-3426-7

المؤلفون: Hattali, Lamine, Valette, Stéphane, Ropital, Francois, Stremsdoerfer, Guy, Mesrati, Nadir, Tréheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IFP Energies nouvelles (IFPEN), IFP Energies nouvelles

المصدر: ISSN: 0955-2219.

مصطلحات موضوعية: Joining, Interface, Fracture, SiC, Ni-alloy, [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: hal-00657486; https://hal.science/hal-00657486; https://hal.science/hal-00657486/document; https://hal.science/hal-00657486/file/SiC_Haynes214_bonding_high_temperature.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00657486
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https://hal.science/hal-00657486/file/SiC_Haynes214_bonding_high_temperature.pdf
https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2008.06.035

المؤلفون: Fitting, Hans-Joachim, Cornet, N., Touzin, Matthieu, Goeuriot, D., Guerret-Piecourt, Christelle, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel

المساهمون: Univ Rostock - Physics Institut, University of Rostock, École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Laboratoire de structures et propriétés de l'état solide - UMR 8008 (LSPES), Université de Lille, Sciences et Technologies-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre Science des Matériaux et des Structures (SMS-ENSMSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0749-6036.

مصطلحات موضوعية: Secondary electron emission, Insulators, Alumina, Electrical conductivity, Charge storage, Charge measurements, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: hal-00849583; https://hal.science/hal-00849583; https://hal.science/hal-00849583/document; https://hal.science/hal-00849583/file/Fitting2009.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00849583
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https://hal.science/hal-00849583/file/Fitting2009.pdf
https://doi.org/10.1016/j.spmi.2008.10.009

المؤلفون: Cornet, Nadège, Goeuriot, Dominique, Touzin, Matthieu, Guerret-Piecourt, Christelle, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel, Fitting, Hans-Joachim

المساهمون: École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Centre Science des Matériaux et des Structures (SMS-ENSMSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de structures et propriétés de l'état solide - UMR 8008 (LSPES), Université de Lille, Sciences et Technologies-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Univ Rostock - Physics Institut, University of Rostock

المصدر: ISSN: 0022-3093 ; Journal of Non-Crystalline Solids ; https://hal.science/hal-00849546 ; Journal of Non-Crystalline Solids, 2009, 355 (18-21), pp.1111-1114. ⟨10.1016/j.jnoncrysol.2009.03.007⟩.

مصطلحات موضوعية: Electrical and electronic properties, Conductivity, Dielectric properties, Relaxation electric modulus, Films and coatings, Measurement techniques, SEM S100, Microscopy, Scanning electron microscopy, Modeling and simulation, Oxide glasses, Silica, Thermally stimulated and depolarization current, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: hal-00849546; https://hal.science/hal-00849546; https://hal.science/hal-00849546/document; https://hal.science/hal-00849546/file/Cornet2009.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00849546
https://hal.science/hal-00849546/document
https://hal.science/hal-00849546/file/Cornet2009.pdf
https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2009.03.007

المؤلفون: Cornet, Nadège, Gœuriot, Dominique, Guerret-Piecourt, Christelle, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel, Touzin, Matthieu, Fitting, Hans-Joachim

المساهمون: Département Mécanique et Procédés d'Elaboration (MPE-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS, Plasticité, Endommagement et Corrosion des Matériaux (PECM-ENSMSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de structures et propriétés de l'état solide - UMR 8008 (LSPES), Université de Lille, Sciences et Technologies-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), University of Rostock

المصدر: ISSN: 0021-8979.

مصطلحات موضوعية: electron-hole recombination, hole traps, leakage currents, Poole-Frenkel effect, secondary electron emission, silicon compounds, surface conductivity, charge storage, trapping, insulators, multi-layer, charge injection, alumina, ballistic transport, electron beam effects, electron traps, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: hal-00281702; https://hal.science/hal-00281702; https://hal.science/hal-00281702/document; https://hal.science/hal-00281702/file/authorversion.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00281702
https://hal.science/hal-00281702/document
https://hal.science/hal-00281702/file/authorversion.pdf
https://doi.org/10.1063/1.2890427

المؤلفون: Touzin, Matthieu, Goeuriot, Dominique, Guerret-Piécourt, Christelle, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel, Fitting, Hans-Joachim

المساهمون: Plasticité, Endommagement et Corrosion des Matériaux (PECM-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département céramiques spéciales (CES), Laboratoire d'Ingénierie et Fonctionnalisation des Surfaces (IFoS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Physics Department Rostock, Universität Rostock

المصدر: ISSN: 0021-8979.

مصطلحات موضوعية: insulators, secondary electron emission, electron injection, electrical charging, PACS: 72.20.Ht, 61.80.Fe, 72.20.Jv, 71.55.Ht, 79.20.Hx, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: hal-00163640; https://hal.science/hal-00163640; https://hal.science/hal-00163640/document; https://hal.science/hal-00163640/file/JApplPhys_99_114110-author.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00163640
https://hal.science/hal-00163640/document
https://hal.science/hal-00163640/file/JApplPhys_99_114110-author.pdf
https://doi.org/10.1063/1.2201851

المؤلفون: Guerret-Piecourt, Christelle, Bec, Sandrine, Ségault, Frédéric, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel, Tonck, André

المساهمون: Physico-chimie des polymères (PCP), Université de Pau et des Pays de l'Adour (UPPA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire d'Ingénierie et Fonctionnalisation des Surfaces (IFoS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 1286-0042 ; EISSN: 1286-0050.

مصطلحات موضوعية: adhesion forces, nano-triboelectrification, triboelectrification, contact electrification, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, [SPI.MECA]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph], [SPI.MECA.MEMA]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Mechanics of materials [physics.class-ph], [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph]

Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/0704.2026; hal-00125280; https://hal.science/hal-00125280; https://hal.science/hal-00125280/document; https://hal.science/hal-00125280/file/2004Guerret-Piecourt_et_al_Adhesion_forces_due_to_nano-triboelectrification.pdf; ARXIV: 0704.2026

الاتاحة: https://hal.science/hal-00125280
https://hal.science/hal-00125280/document
https://hal.science/hal-00125280/file/2004Guerret-Piecourt_et_al_Adhesion_forces_due_to_nano-triboelectrification.pdf

المؤلفون: Guerret-Piécourt, Christelle, Juvé, Denyse, Burais, Noël, Tréheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire d'Ingénierie et Fonctionnalisation des Surfaces (IFoS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ampère (AMPERE), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Centre de génie électrique de Lyon (CEGELY), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0021-8979.

مصطلحات موضوعية: SPACE-CHARGE, CRYSTALS, SURFACE, BEAM, 73.40.Cg, 52.80.Vp, 61.80.Fe, 41.20.Cv, 61.82.Bg, 61.82.Ms, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power

Relation: hal-00140340; https://hal.science/hal-00140340; https://hal.science/hal-00140340/document; https://hal.science/hal-00140340/file/jap_92_guerret_2002.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-00140340
https://hal.science/hal-00140340/document
https://hal.science/hal-00140340/file/jap_92_guerret_2002.pdf
https://doi.org/10.1063/1.1522477

المؤلفون: Guerret-Piecourt, Christelle, Bec, Sandrine, Treheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire d'Ingénierie et Fonctionnalisation des Surfaces (IFoS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: Comptes Rendus de l'Academie des Sciences. Série IV, Physique, Astronomie ; https://hal.science/hal-00163672 ; Comptes Rendus de l'Academie des Sciences. Série IV, Physique, Astronomie, 2001, t2 (Série IV), pp.761-774

مصطلحات موضوعية: dielectric behavior, friction, triboelectrification, interfacial interaction, space charge, surface forces, [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph], [SPI.MECA.MEMA]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Mechanics of materials [physics.class-ph]

Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/0707.2649; hal-00163672; https://hal.science/hal-00163672; https://hal.science/hal-00163672/document; https://hal.science/hal-00163672/file/cras-t2-IV-761-2001.pdf; ARXIV: 0707.2649

الاتاحة: https://hal.science/hal-00163672
https://hal.science/hal-00163672/document
https://hal.science/hal-00163672/file/cras-t2-IV-761-2001.pdf

المؤلفون: Haddour, L., Mesrati, N., Goeuriot, Dominique, Tréheux, Daniel

المساهمون: Laboratoire Science et Génie des matériaux, École nationale polytechnique Alger, Algérie (ENP), Plasticité, Endommagement et Corrosion des Matériaux (PECM-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département Mécanique et Procédés d'Elaboration (MPE-ENSMSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS, Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0955-2219.

مصطلحات موضوعية: Al2O3, Microstructure final, Toughness and toughening, Reinforcement, Wear resistance, Breakdown, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: emse-00462412; https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00462412

الاتاحة: https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00462412
https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2009.03.022

المؤلفون: Touzin, Matthieu, Gœuriot, Dominique, Fitting, Hans-Joachim, Guerret-Piecourt, Christelle, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel

المساهمون: Département Mécanique et Procédés d'Elaboration (MPE-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS, Plasticité, Endommagement et Corrosion des Matériaux (PECM-ENSMSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Physics Department, University of Rostock, Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (ENISE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0955-2219.

مصطلحات موضوعية: Grain boundaries, Interfaces, Dielectric properties, Al2O3, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: hal-00293275; https://hal.science/hal-00293275

الاتاحة: https://hal.science/hal-00293275
https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2006.05.047

المؤلفون: Cornet, Nadège, Goeuriot, Dominique, Touzin, Matthieu, Guerret-Piecourt, Christelle, Juvé, Denyse, Tréheux, Daniel, Fitting, Hans-Joachim

المساهمون: École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Centre Science des Matériaux et des Structures (SMS-ENSMSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (LTDS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Nationale des Travaux Publics de l'État (ENTPE)-Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de structures et propriétés de l'état solide - UMR 8008 (LSPES), Université de Lille, Sciences et Technologies-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Univ Rostock - Physics Institut, University of Rostock, Ecole Nationale Supérieure des Mines, 158 cours Fauriel, Univ Sci & Technol Lille, F-59655 Villeneuve Dascq, Ecole Cent Lyon, F-69134 Ecully, F-42023 Saint-Etienne, France, Univ Rostock, Inst Phys, D-18051 Rostock, Germany

المصدر: Journal of Non-Crystalline Solids
Journal of Non-Crystalline Solids, Elsevier, 2009, 355 (18-21), pp.1111-1114. ⟨10.1016/j.jnoncrysol.2009.03.007⟩

مصطلحات موضوعية: Conductivity, Microscopy, SEM S100, Films and coatings, Modeling and simulation, Silica, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, Electrical and electronic properties, Oxide glasses, Dielectric properties, Measurement techniques, Thermally stimulated and depolarization current, relaxation electric modulus, Scanning electron microscopy

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::67cf79e58f0ba0e2f1ed19b99988ca85
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00849546

المؤلفون: Ponsonnet, Laurence, Tréheux, Daniel, Lissac, M., Jaffrezic-Renault, Nicole, Grosgogeat, B.

المساهمون: Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Centre de génie électrique de Lyon (CEGELY), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire d'Ingénierie et Fonctionnalisation des Surfaces (IFoS), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), UFR d’Odontologie, Université de Lyon

المصدر: ISSN: 1383-5416.

مصطلحات موضوعية: WIRES, RESISTANCE, BIODEGRADATION, FIBROBLASTS, ROUGHNESS, corrosion, biocompatibility, alloys (NiTi), orthodontic wires, NICKEL-TITANIUM ALLOY, SHAPE-MEMORY ALLOY, CORROSION BEHAVIOR, ORTHODONTIC APPLIANCES, SURFACE, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power

Relation: hal-00140922; https://hal.science/hal-00140922

الاتاحة: https://hal.science/hal-00140922
https://doi.org/10.3233/JAE-2006-733

المؤلفون: BLAISE Guy, LE GRESSUS Claude, BONNELLE Christiane, TREHEUX Daniel

Resource Type: eBook.

Categories: TECHNOLOGY & ENGINEERING / Materials Science / Electronic Materials

المؤلفون: Fitting, Hans-Joachim, Meyza, Xavier, Guerret-Piecourt, Christelle, Dutriez, Cédric, Touzin, Matthieu, Gœuriot, Dominique, Tréheux, Daniel

المساهمون: Physics Department, University of Rostock, Département céramiques spéciales (CES), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-SMS-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Plasticité, Endommagement et Corrosion des Matériaux (PECM-ENSMSE), Physico-chimie des polymères (PCP), Université de Pau et des Pays de l'Adour (UPPA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire d'Ingénierie et Fonctionnalisation des Surfaces (IFoS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0955-2219.

مصطلحات موضوعية: Dielectric properties, Electrical properties, Al2O3, SiO2, Insulators, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: emse-00505847; https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00505847

الاتاحة: https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00505847
https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2005.03.143