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1Report
المساهمون: Smart Integrated Electronic Systems (LIRMM, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)
المصدر: https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-04703369 ; 2024.
مصطلحات موضوعية: Security, Fault attacks, Coutermeasurs, Hardware, Reverse-engineering, Countermeasure, Thermal dissipation monitoring, [SPI]Engineering Sciences [physics]
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2Conference
المؤلفون: Maurine, Philippe, Raoult, Jérémy, Mouette, Anselme, Toulemont, Julien
المساهمون: Smart Integrated Electronic Systems (LIRMM, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), Agence nationale de la sécurité des systèmes d'information (ANSSI)
المصدر: EMC COMPO 2024 - 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits ; https://hal.science/hal-04699339 ; EMC COMPO 2024 - 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin, Italy ; https://emccompo2024.it/
مصطلحات موضوعية: Near field probes, Selectivity, Side-channel analysis, Security, [SPI]Engineering Sciences [physics]
الاتاحة: https://hal.science/hal-04699339
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3Conference
المؤلفون: Toulemont, Julien, Chancel, Geoffrey, Galliere, Jean-Marc, Mailly, Frédérick, Nouet, Pascal, Maurine, Philippe
المساهمون: Smart Integrated Electronic Systems (SmartIES), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: FDTC 2021 - Workshop on Fault Detection and Tolerance in Cryptography ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03476820 ; FDTC 2021 - Workshop on Fault Detection and Tolerance in Cryptography, Sep 2021, Milan, Italy. pp.67-73, ⟨10.1109/FDTC53659.2021.00019⟩
مصطلحات موضوعية: Hardware security, Integrated circuits, Fault attacks, EM fault injection, EMFI probes, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Relation: lirmm-03476820; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03476820; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03476820/document; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03476820/file/JAIF2021%20-%20Toulemont.pdf
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4Report
المؤلفون: Toulemont, Julien, Ouldei-Tebina, Nasr-Eddine, Galliere, Jean-Marc, Nouet, Pascal, Bourbao, Eric, Maurine, Philippe
المساهمون: Smart Integrated Electronic Systems (SmartIES), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), THALES France
المصدر: https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03626807 ; 2020.
مصطلحات موضوعية: EM Fault Injection, Secure IC design, Hardware security, [INFO.INFO-CR]Computer Science [cs]/Cryptography and Security [cs.CR]
Relation: lirmm-03626807; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03626807; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03626807/document; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03626807/file/2020-1277.pdf
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5Conference
المؤلفون: Toulemont, Julien, Mailly, Frédérick, Maurine, Philippe, Nouet, Pascal
المساهمون: Smart Integrated Electronic Systems (SmartIES), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: NEWCAS 2021 - 19th IEEE International New Circuits and Systems Conference ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03278789 ; NEWCAS 2021 - 19th IEEE International New Circuits and Systems Conference, Jun 2021, Toulon, France. pp.1-4, ⟨10.1109/NEWCAS50681.2021.9462763⟩
مصطلحات موضوعية: Side channel attacks, Electromagnetic side channel, Sensor, Hardware security, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Relation: lirmm-03278789; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03278789
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6Dissertation/ Thesis
المؤلفون: Toulemont, Julien
المساهمون: Smart Integrated Electronic Systems (SmartIES), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Montpellier, Pascal Nouet, Philippe Maurine
المصدر: https://theses.hal.science/tel-03589323 ; Electromagnétisme. Université Montpellier, 2021. Français. ⟨NNT : 2021MONTS060⟩.
مصطلحات موضوعية: Integration, Micro-Probe, Analysis, Injection, Electromagnetic, Resolution, Intégration, Micro-Sonde, Analyse, Électromagnétique, Résolution, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism
Relation: NNT: 2021MONTS060; tel-03589323; https://theses.hal.science/tel-03589323; https://theses.hal.science/tel-03589323/document; https://theses.hal.science/tel-03589323/file/TOULEMONT_2021_archivage.pdf