المؤلفون: Alamarguy, David, Aureau, Damien, Conard, Thierry, Gauthier, Nicolas, Georgi, Frédéric, Guilet, Stéphane, Hajjar-Garreau, Samar, Heintz, Olivier, Monier, Guillaume, Méthivier, Christophe, Montigaud, Hervé, Soulé, Samantha, Renault, Olivier, Lazzari, Rémi

المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Fédération de Recherche Spectroscopies de Photoémission, Institut Lavoisier de Versailles (ILV), Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IMEC (IMEC), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF), Mines Paris - PSL (École nationale supérieure des mines de Paris), Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Nanosciences de Paris (INSP), Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de Science des Matériaux de Mulhouse (IS2M), Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et Nanosciences Grand-Est (MNGE), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Réseau nanophotonique et optique, Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (ICB), Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Université de Bourgogne (UB)-Université Bourgogne Franche-Comté COMUE (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Pascal (IP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Clermont Auvergne (UCA)-Institut national polytechnique Clermont Auvergne (INP Clermont Auvergne), Université Clermont Auvergne (UCA)-Université Clermont Auvergne (UCA), Laboratoire de Réactivité de Surface (LRS), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Surface du Verre et Interfaces (SVI), Saint-Gobain-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'Environnement (LCPME), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0368-2048 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena ; https://hal.science/hal-04722306 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2024, 276, pp.147486. ⟨10.1016/j.elspec.2024.147486⟩.

مصطلحات موضوعية: XPS, HAXPES, Response function, Hemispherical analyser, Relative sensitivity factor, Tougaard background, [CHIM]Chemical Sciences

الاتاحة: https://hal.science/hal-04722306
https://hal.science/hal-04722306v1/document
https://hal.science/hal-04722306v1/file/TF_XPS_FR.pdf
https://doi.org/10.1016/j.elspec.2024.147486

المؤلفون: Alamarguy, David, Aureau, Damien, Conard, Thierry, Gauthier, Nicolas, Georgi, Frédéric, Guilet, Stéphane, Hajjar-Garreau, Samar, Heintz, Olivier, Monier, Guillaume, Méthivier, Christophe, Montigaud, Hervé, Soulé, Samantha, Renault, Olivier, Lazzari, Rémi

المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Fédération de Recherche Spectroscopies de Photoémission, Institut Lavoisier de Versailles (ILV), Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IMEC (IMEC), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF), Mines Paris - PSL (École nationale supérieure des mines de Paris), Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Nanosciences de Paris (INSP), Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de Science des Matériaux de Mulhouse (IS2M), Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et Nanosciences Grand-Est (MNGE), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Réseau nanophotonique et optique, Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (ICB), Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Université de Bourgogne (UB)-Université Bourgogne Franche-Comté COMUE (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Pascal (IP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Clermont Auvergne (UCA)-Institut national polytechnique Clermont Auvergne (INP Clermont Auvergne), Université Clermont Auvergne (UCA)-Université Clermont Auvergne (UCA), Laboratoire de Réactivité de Surface (LRS), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Surface du Verre et Interfaces (SVI), Saint-Gobain-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'Environnement (LCPME), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0368-2048 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena ; https://hal.science/hal-04722306 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2024, 276, pp.147486. ⟨10.1016/j.elspec.2024.147486⟩.

مصطلحات موضوعية: XPS, HAXPES, Response function, Hemispherical analyser, Relative sensitivity factor, Tougaard background, [CHIM]Chemical Sciences

الاتاحة: https://hal.science/hal-04722306
https://hal.science/hal-04722306v1/document
https://hal.science/hal-04722306v1/file/TF_XPS_FR.pdf
https://doi.org/10.1016/j.elspec.2024.147486

المؤلفون: Alamarguy, David, Aureau, Damien, Conard, Thierry, Gauthier, Nicolas, Georgi, Frédéric, Guilet, Stéphane, Hajjar-Garreau, Samar, Heintz, Olivier, Monier, Guillaume, Méthivier, Christophe, Montigaud, Hervé, Soulé, Samantha, Renault, Olivier, Lazzari, Rémi

المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Fédération de Recherche Spectroscopies de Photoémission, Institut Lavoisier de Versailles (ILV), Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IMEC (IMEC), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF), Mines Paris - PSL (École nationale supérieure des mines de Paris), Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Nanosciences de Paris (INSP), Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de Science des Matériaux de Mulhouse (IS2M), Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et Nanosciences Grand-Est (MNGE), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Réseau nanophotonique et optique, Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (ICB), Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Université de Bourgogne (UB)-Université Bourgogne Franche-Comté COMUE (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Pascal (IP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Clermont Auvergne (UCA)-Institut national polytechnique Clermont Auvergne (INP Clermont Auvergne), Université Clermont Auvergne (UCA)-Université Clermont Auvergne (UCA), Laboratoire de Réactivité de Surface (LRS), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Surface du Verre et Interfaces (SVI), Saint-Gobain-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'Environnement (LCPME), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0368-2048 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena ; https://hal.science/hal-04722306 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2024, 276, pp.147486. ⟨10.1016/j.elspec.2024.147486⟩.

مصطلحات موضوعية: XPS, HAXPES, Response function, Hemispherical analyser, Relative sensitivity factor, Tougaard background, [CHIM]Chemical Sciences

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المؤلفون: Alamarguy, David, Aureau, Damien, Conard, Thierry, Gauthier, Nicolas, Georgi, Frédéric, Guilet, Stéphane, Hajjar-Garreau, Samar, Heintz, Olivier, Monier, Guillaume, Méthivier, Christophe, Montigaud, Hervé, Soulé, Samantha, Renault, Olivier, Lazzari, Rémi

المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Fédération de Recherche Spectroscopies de Photoémission, Institut Lavoisier de Versailles (ILV), Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IMEC (IMEC), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF), Mines Paris - PSL (École nationale supérieure des mines de Paris), Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Nanosciences de Paris (INSP), Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de Science des Matériaux de Mulhouse (IS2M), Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et Nanosciences Grand-Est (MNGE), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Réseau nanophotonique et optique, Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (ICB), Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Université de Bourgogne (UB)-Université Bourgogne Franche-Comté COMUE (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Pascal (IP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Clermont Auvergne (UCA)-Institut national polytechnique Clermont Auvergne (INP Clermont Auvergne), Université Clermont Auvergne (UCA)-Université Clermont Auvergne (UCA), Laboratoire de Réactivité de Surface (LRS), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Surface du Verre et Interfaces (SVI), Saint-Gobain-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'Environnement (LCPME), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0368-2048 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena ; https://hal.science/hal-04722306 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2024, 276, pp.147486. ⟨10.1016/j.elspec.2024.147486⟩.

مصطلحات موضوعية: XPS, HAXPES, Response function, Hemispherical analyser, Relative sensitivity factor, Tougaard background, [CHIM]Chemical Sciences

الاتاحة: https://hal.science/hal-04722306
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https://doi.org/10.1016/j.elspec.2024.147486

المؤلفون: Alamarguy, David, Aureau, Damien, Conard, Thierry, Gauthier, Nicolas, Georgi, Frédéric, Guilet, Stéphane, Hajjar-Garreau, Samar, Heintz, Olivier, Monier, Guillaume, Méthivier, Christophe, Montigaud, Hervé, Soulé, Samantha, Renault, Olivier, Lazzari, Rémi

المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Fédération de Recherche Spectroscopies de Photoémission, Institut Lavoisier de Versailles (ILV), Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IMEC (IMEC), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF), Mines Paris - PSL (École nationale supérieure des mines de Paris), Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Nanosciences de Paris (INSP), Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de Science des Matériaux de Mulhouse (IS2M), Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et Nanosciences Grand-Est (MNGE), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Réseau nanophotonique et optique, Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (ICB), Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Université de Bourgogne (UB)-Université Bourgogne Franche-Comté COMUE (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Pascal (IP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Clermont Auvergne (UCA)-Institut national polytechnique Clermont Auvergne (INP Clermont Auvergne), Université Clermont Auvergne (UCA)-Université Clermont Auvergne (UCA), Laboratoire de Réactivité de Surface (LRS), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Surface du Verre et Interfaces (SVI), Saint-Gobain-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'Environnement (LCPME), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0368-2048 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena ; https://hal.science/hal-04722306 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2024, 276, pp.147486. ⟨10.1016/j.elspec.2024.147486⟩.

مصطلحات موضوعية: XPS, HAXPES, Response function, Hemispherical analyser, Relative sensitivity factor, Tougaard background, [CHIM]Chemical Sciences

الاتاحة: https://hal.science/hal-04722306
https://hal.science/hal-04722306v1/document
https://hal.science/hal-04722306v1/file/TF_XPS_FR.pdf
https://doi.org/10.1016/j.elspec.2024.147486

المؤلفون: Guilet, Stéphane, Bataillou, Léa, Lazzari, Rémi, Kerivel, Olivier

المساهمون: Institut des Nanosciences de Paris (INSP), Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0368-2048 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena ; https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-03766377 ; Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2022, 258, pp.147225. ⟨10.1016/j.elspec.2022.147225⟩.

مصطلحات موضوعية: photoemission, Tougaard background, hemispherical analyser, transmission function, [PHYS.PHYS.PHYS-CHEM-PH]Physics [physics]/Physics [physics]/Chemical Physics [physics.chem-ph], [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci], [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic

الاتاحة: https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-03766377
https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-03766377v1/document
https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-03766377v1/file/TF_XSP_els_v2.pdf
https://doi.org/10.1016/j.elspec.2022.147225

المؤلفون: Jaeger, Dominik, Patscheider, Jörg

مصطلحات موضوعية: titanium nitride, shake-up, satellite, Tougaard background

Relation: Surface Science Spectra--Surf. Sci. Spectra--journals:2728--1055-5269--1520-8575; empa:5684; journal id: journals:2728; e-issn: 1520-8575; ut: 000420005900001; local: 17859; scopus: 2-s2.0-84893054029

الاتاحة: https://doi.org/10.1116/11.20121107

المؤلفون: Jaeger, Dominik, Patscheider, Jörg

مصطلحات موضوعية: titanium nitride, AR-XPS, shake-up, satellites, Tougaard background

Relation: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena--J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.--journals:1584--0368-2048; empa:5500; journal id: journals:1584; ut: 000314439900014; local: 17488; scopus: 2-s2.0-84871834976

الاتاحة: https://doi.org/10.1016/j.elspec.2012.10.011