المؤلفون: Nakamura, M., Takahashi, T., Akiba, T., Kitsukawa, G., Morino, M., Sekiguchi, T., Asano, I., Komatsuzaki, K., Tadaki, Y., Songsu Cho, Kajigaya, K., Tachibana, T., Sato, K.

المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; volume 31, issue 9, page 1302-1307 ; ISSN 0018-9200

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/4.535414
http://xplorestaging.ieee.org/ielx1/4/11273/00535414.pdf?arnumber=535414