المؤلفون: Teller, Justin, Silio Jr., Charles B., Jacob, Bruce

المصدر: Memory System Performance; Jun2005, p44-53, 10p

المؤلفون: Dao, Hung M., Silio Jr., Charles B.

المصدر: IEEE Transactions on Reliability. Mar98, Vol. 47 Issue 1, p35. 9p. 12 Diagrams, 2 Graphs.

مصطلحات موضوعية: *ENGINEERING, RING networks

المؤلفون: Pugsley, James H., Silio Jr., Charles B.

المصدر: Multiple-Valued Logic Conference Proceedings; Jan1978, p23-31, 9p

المؤلفون: Hershey, Paul C., Silio Jr., Charles B.

المصدر: IEEE Systems Journal; Jun2010, Vol. 4 Issue 2, p147-155, 9p

المؤلفون: Petrica, Zamfira I., Nunes, Daltro L., Teixeira, Sergio R. P., Das, S. R., Banerji, D. K., Cramer, Randolph L., Chyung, Dong Hak, K. R. Rao, Mrig, L. C., Ahmed, N., Evans Alan G., Fischl, Robert, Silio Jr, Charles B., Sloan, Martha E.

المصدر: Scopus-Elsevier

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0ef2afb2338f71d62e220b7065d82968
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85069393083&partnerID=MN8TOARS

المؤلفون: Baig, Zubair

المساهمون: Gligor, Virgil D, Franklin, Manoj, Silio, Jr., Charles B, Electrical Engineering

مصطلحات موضوعية: Engineering, Electronics and Electrical, Computer Science

وصف الملف: 406676 bytes; application/pdf

Relation: Digital Repository at the University of Maryland; University of Maryland (College Park, Md.); http://hdl.handle.net/1903/75

الاتاحة: http://hdl.handle.net/1903/75