المؤلفون: Yury M. Koroteev, Leonid A. Svyatkin, Sergey O. Ognev, Vyacheslav M. Silkin

المصدر: Crystals, Vol 15, Iss 1, p 37 (2024)

مصطلحات موضوعية: silicon, surface, atomic structure, charge transfer, bond type, bond strength, Crystallography, QD901-999

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://www.mdpi.com/2073-4352/15/1/37; https://doaj.org/toc/2073-4352

URL الوصول: https://doaj.org/article/c75b3766066947baacbb43a78e0cf521