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1Academic Journal
المؤلفون: Santafé, Pablo, Gevaux, Lou, Ferrero, Alejandro, Fontanot, Tommaso, Audenaert, Jan, Meuret, Youri, Obein, Gaël, Campos Acosta, Joaquín
المساهمون: European Metrology Research Programme, European Commission, Ministerio de Economía y Competitividad (España), Comunidad de Madrid, https://ror.org/02gfc7t72
مصطلحات موضوعية: BSSRDF, Primary, Scattering, Comparison, Metrology
Relation: #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#; info:eu-repo/grantAgreement/AEI/Plan Estatal de Investigación Científica y Técnica y de Innovación 2017-2020/PGC2018-096470-B-I00/ES/REALIZACION DE MAGNITUDES BIDIRECCIONALES PARA ESPARCIMIENTO (SCATTERING) COMPLEJO EN LOS INTERVALOS VISIBLE E INFRARROJO PROXIMO/; S2018/NMT-4326-SINFOTON2-C-M; Publisher's version; http://dx.doi.org/10.1088/2040-8986/ad21df; Sí; Journal of Optics 26: 035601 (2024); http://hdl.handle.net/10261/360191
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2Academic Journal
المؤلفون: Basic, N., Molloy, E., Koo, A., Ferrero, Alejandro, Santafé, Pablo, Gevaux, L., Porrovecchio, G., Schirmacher, A., Šmíd, M., Blattner, P., Hauer, K.-O., Quast, T., Campos Acosta, Joaquín, Obein, G.
المساهمون: European Metrology Research Programme, European Commission
Relation: Applied optics; Publisher's version; https://doi.org/10.1364/AO.486156; Sí; Applied Optics 62(13): 3320-3329 (2023); http://hdl.handle.net/10261/336793; http://dx.doi.org/10.13039/501100000780; 2-s2.0-85157987323; https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85157987323
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3Academic Journal
مصطلحات موضوعية: Sub-surface scattering, Translucency, Measurement scale, BSSRDF
Relation: Postprint; Sí; E-medida, 22 (2023); http://hdl.handle.net/10261/336820
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10261/336820
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4Conference
المؤلفون: Campos Acosta, Joaquín, Ferrero, Alejandro, Velázquez, J.L., Tejedor, Néstor, Santafé, Pablo
المساهمون: Comunidad de Madrid
Relation: #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#; S2018/NMT-4326/SINFOTON2-CM; Sí; 7º Congreso Español de Metrología (2022); http://hdl.handle.net/10261/284438; http://dx.doi.org/10.13039/100012818
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5Conference
المساهمون: European Metrology Research Programme, European Commission, Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades (España), Comunidad de Madrid
Relation: #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#; info:eu-repo/grantAgreement/AEI/Plan Estatal de Investigación Científica y Técnica y de Innovación 2017-2020/PGC2018-096470-B-I00/ES/REALIZACION DE MAGNITUDES BIDIRECCIONALES PARA ESPARCIMIENTO (SCATTERING) COMPLEJO EN LOS INTERVALOS VISIBLE E INFRARROJO PROXIMO/; S2018/NMT-4326/SINFOTON2-CM; Sí; 7º Congreso Español de Metrología (2022); http://hdl.handle.net/10261/284269; http://dx.doi.org/10.13039/501100000780; http://dx.doi.org/10.13039/100012818
-
6Conference
المؤلفون: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
Relation: Sí; Iberic Meeting of Optics Students (2022); http://hdl.handle.net/10261/283642
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10261/283642
-
7Conference
Relation: Sí; Iberic Meeting of Optics Students (2022); http://hdl.handle.net/10261/283646
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10261/283646
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8Conference
المؤلفون: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
مصطلحات موضوعية: BSSRDF, Scattering, Comparison
Relation: Sí; PhDAY-FOO (2022); http://hdl.handle.net/10261/283643
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10261/283643
-
9Electronic Resource
المؤلفون: European Metrology Research Programme, European Commission, Ministerio de Economía y Competitividad (España), Comunidad de Madrid, https://ror.org/02gfc7t72, Santafé, Pablo, Gevaux, Lou, Ferrero, Alejandro, Fontanot, Tommaso, Audenaert, Jan, Meuret, Youri, Obein, Gaël, Campos Acosta, Joaquín
مصطلحات الفهرس: BSSRDF, Primary, Scattering, Comparison, Metrology, artículo
URL:
http://hdl.handle.net/10261/360191
Publisher's versionhttp://dx.doi.org/10.1088/2040-8986/ad21df
Sí
info:eu-repo/grantAgreement/AEI/Plan Estatal de Investigación Científica y Técnica y de Innovación 2017-2020/PGC2018-096470-B-I00/ES/REALIZACION DE MAGNITUDES BIDIRECCIONALES PARA ESPARCIMIENTO (SCATTERING) COMPLEJO EN LOS INTERVALOS VISIBLE E INFRARROJO PROXIMO
S2018/NMT-4326-SINFOTON2-C-M -
10Conference
المؤلفون: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
مصطلحات موضوعية: CMOS, Readout noise, Linearity, Dark current, Bad pixels, Irradiance, Matrix detector
Relation: Sí; XII Reunión Española de Optoelectrónica (2021); http://hdl.handle.net/10261/249014
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10261/249014
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11Academic Journal
المساهمون: Comunidad de Madrid, European Association of National Metrology Institutes, Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades (España)
Relation: #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#; S2018/NMT-4326/SINFOTON2-C; info:eu-repo/grantAgreement/AEI/Plan Estatal de Investigación Científica y Técnica y de Innovación 2017-2020/PGC2018-096470-B-I00/ES/REALIZACION DE MAGNITUDES BIDIRECCIONALES PARA ESPARCIMIENTO (SCATTERING) COMPLEJO EN LOS INTERVALOS VISIBLE E INFRARROJO PROXIMO/; Publisher's version; http://dx.doi.org/10.1364/OE.439108; Sí; Optics Express 29: 34175-34188 (2021); http://hdl.handle.net/10261/259205; http://dx.doi.org/10.13039/100012818; http://dx.doi.org/10.13039/100012329
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12Academic Journal
مصطلحات موضوعية: Apariencia, Color, Brillo, Translucidez, Textura, Escala de medida, Experimentos psicofísicos
Relation: Postprint; Sí; Revista Española de Metrología. E-medida 19 (2021); http://hdl.handle.net/10261/259133
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10261/259133
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13Academic Journal
المؤلفون: Ferrero, Alejandro, Frisvad, J.R., Simonot, L., Santafé, Pablo, Schirmacher, A., Campos Acosta, Joaquín, Hebert, M.
المساهمون: European Metrology Research Programme, Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades (España)
Relation: #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#; info:eu-repo/grantAgreement/AEI/Plan Estatal de Investigación Científica y Técnica y de Innovación 2017-2020/PGC2018-096470-B-I00; Publisher's version; https://doi.org/10.1364/OE.410225; Sí; Optics Express 29(1): 219-231 (2021); http://hdl.handle.net/10261/250779
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14Electronic Resource
المؤلفون: European Metrology Research Programme, European Commission, Basic, N., Molloy, E., Koo, A., Ferrero, Alejandro, Santafé, Pablo, Gevaux, L., Porrovecchio, G., Schirmacher, A., Šmíd, M., Blattner, P., Hauer, K.-O., Quast, T., Campos Acosta, Joaquín, Obein, G.
مصطلحات الفهرس: artículo
URL:
http://hdl.handle.net/10261/336793 https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85157987323 https://doi.org/10.1364/AO.486156
Applied optics
Publisher's versionhttps://doi.org/10.1364/AO.486156
Sí -
15Electronic Resource
المؤلفون: Comunidad de Madrid, European Association of National Metrology Institutes, Ministerio de Economía y Competitividad (España), Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Tejedor-Sierra, Néstor, Campos Acosta, Joaquín
مصطلحات الفهرس: corrigenda
URL:
http://hdl.handle.net/10261/350370 https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85180981819 https://doi.org/10.1364/OE.507650
Optics express
Publisher's versionhttps://doi.org/10.1364/OE.507650
Sí
S2018/NMT-4326/SINFOTON2-CM -
16Conference
المؤلفون: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín, Tejedor-Sierra, Néstor, Velázquez, J.L.
Relation: Sí; Innovation Workshop - Soluciones Deep Tech a los retos del envasado (2020); http://hdl.handle.net/10261/239482
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10261/239482
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17
المساهمون: Comunidad de Madrid, European Association of National Metrology Institutes, Ministerio de Economía y Competitividad (España)
Relation: #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#; S2018/NMT-4326/SINFOTON2-CM; Optics express; Publisher's version; https://doi.org/10.1364/OE.507650; Sí; Optics Express 31(26):43686-43689 (2023); http://hdl.handle.net/10261/350370; 2-s2.0-85180981819; https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85180981819
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18
المساهمون: Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades (España), Comunidad de Madrid
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19
المؤلفون: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
المساهمون: European Commission, European Metrology Research Programme, Comunidad de Madrid, Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades (España)
المصدر: UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)مصطلحات موضوعية: Light -- Scattering, Ciències de la visió::Òptica física::Color [Àrees temàtiques de la UPC], Color, Reflectance, Factor de reflexió, Llum -- Dispersió
وصف الملف: application/pdf
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20Electronic Resource
المؤلفون: Comunidad de Madrid, Campos Acosta, Joaquín, Ferrero, Alejandro, Velázquez, J.L., Tejedor-Sierra, Néstor, Santafé, Pablo
مصطلحات الفهرس: comunicación de congreso
URL:
http://hdl.handle.net/10261/284438
Sí
S2018/NMT-4326/SINFOTON2-CM