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1Conference
المؤلفون: Pouget, Vincent
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), ESA
المصدر: ESA TEC-QEC Final Presentation days ; https://hal.science/hal-04308725 ; ESA TEC-QEC Final Presentation days, ESA, Jun 2023, Noordwijk, Netherlands
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
جغرافية الموضوع: Noordwijk, Netherlands
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2Academic Journal
المؤلفون: da Costa Lopes, I., Pouget, Vincent, Wrobel, F., Touboul, A., Saigne, F., Roed, K.
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), University of Oslo (UiO)
المصدر: ISSN: 0018-9499.
مصطلحات موضوعية: Single-event effects, System-on-Module, Radiation Hardness Assurance, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
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3Conference
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), Capteurs et Instrumentations (CI)
المصدر: 20th International Symposium on ElectroMagnetic Compatibility (CEM2020
https://hal.science/hal-04623259
20th International Symposium on ElectroMagnetic Compatibility (CEM2020, Apr 2021, Lyon, Franceمصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]
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4Conference
المؤلفون: Guagliardo, S., Wrobel, Frédéric, Quadros de Aguiar, Ygor, Autran, Jean-Luc, Leroux, P., Saigné, Frédéric, Pouget, Vincent, Touboul, Antoine
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: 2020 15th Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)
International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)
https://hal.science/hal-03187841
International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), Apr 2020, Marrakech, Morocco. ⟨10.1109/dtis48698.2020.9081275⟩مصطلحات موضوعية: Single-Event Latchup, TCAD simulations, Cross section, [SPI]Engineering Sciences [physics]
Relation: hal-03187841; https://hal.science/hal-03187841; https://hal.science/hal-03187841/document; https://hal.science/hal-03187841/file/paper10.pdf
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5Conference
المؤلفون: Lopes, Israel, C, Pouget, Vincent, Wrobel, Frédéric, Saigné, Frédéric, Touboul, Antoine, Roed, Ketil
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), University of Oslo (UiO)
المصدر: IEEE Latin American Test Symposium (LATS) 2020 ; https://hal.science/hal-03251533 ; IEEE Latin American Test Symposium (LATS) 2020, Mar 2020, Maceio, Brazil. pp.1-6, ⟨10.1109/LATS49555.2020.9093681⟩
مصطلحات موضوعية: Radiation effects, System-level testing, System-on-chip testing, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
جغرافية الموضوع: Brazil
Time: Maceio, Brazil
Relation: hal-03251533; https://hal.science/hal-03251533; https://hal.science/hal-03251533/document; https://hal.science/hal-03251533/file/Lopes_al.pdf
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6Academic Journal
المؤلفون: Guagliardo, S., Wrobel, Frédéric, Quadros de Aguiar, Ygor, Autran, Jean-Luc, Leroux, Paul, Saigné, Frédéric, Pouget, Vincent, Touboul, Antoine
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven)
المصدر: ISSN: 0026-2714.
مصطلحات موضوعية: Single-Event Latchup, TCAD simulations, Cross section, temperature effects, Collected charge, [SPI]Engineering Sciences [physics]
Relation: hal-03187849; https://hal.science/hal-03187849; https://hal.science/hal-03187849/document; https://hal.science/hal-03187849/file/paper11.pdf
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7Academic Journal
المؤلفون: Coronetti, Andrea, Alia, Ruben Garcia, Budroweit, Jan, Rajkowski, Tomasz, Costa Lopes, Israel Da, Niskanen, Kimmo, Soderstrom, Daniel, Cazzaniga, Carlo, Ferraro, Rudy, Danzeca, Salvatore, Mekki, Julien, Manni, Florent, Dangla, David, Virmontois, Cedric, Kerboub, Nourdine, Koelpin, Alexander, Saigné, Frédéric, Wang, Pierre, Pouget, Vincent, Touboul, Antoine, Javanainen, Arto, Kettunen, Heikki, Germanicus, Rosine Coq
المساهمون: European Organization for Nuclear Research (CERN), CERN Genève, German Aerospace Center (DLR), 3D Plus, Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), University of Jyväskylä (JYU), Science and Technology Facilities Council (STFC), Centre National d'Études Spatiales Toulouse (CNES), Hamburg University of Technology (TUHH), Vanderbilt University Nashville, Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 0018-9499.
مصطلحات موضوعية: System verification, Space missions, Radiation effects, Performance evaluation, Total ionizing dose, Protons, Neutrons, Radiation hardening (electronics), Commercial off-the-shelf (COTS), Facilities, Radiation hardness assurance, Risk acceptance, Single-event effect (SEE), Small satelllites, System-level testing, Test methodology, Total ionizing dose (TID), [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [PHYS.PHYS.PHYS-SPACE-PH]Physics [physics]/Physics [physics]/Space Physics [physics.space-ph]
الاتاحة: https://hal.science/hal-03341566
https://hal.science/hal-03341566v1/document
https://hal.science/hal-03341566v1/file/Radiation_Hardness_Assurance_Through_System-Level_Testing_Risk_Acceptance_Facility_Requirements_Test_Methodology_and_Data_Exploitation.pdf
https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3061197 -
8Academic Journal
المؤلفون: Ngom, C., Pouget, Vincent, Zerarka, M., Coccetti, F., Touboul, Antoine, Matmat, M., Crepel, O., Jonathas, S., Bascoul, G.
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique, Airbus France, PULSCAN, Centre National d'Études Spatiales Toulouse (CNES)
المصدر: ISSN: 0018-9499.
مصطلحات موضوعية: Single-event effects, GaN, laser testing, three photon absorption, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Relation: hal-03428144; https://hal.science/hal-03428144; https://hal.science/hal-03428144/document; https://hal.science/hal-03428144/file/IEEE%20TNS-Ngom-Rev%204.pdf
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9Academic Journal
المؤلفون: Ngom, C., Pouget, Vincent, Zerarka, M., Coccetti, F., Crepel, O., Touboul, A., Matmat, M.
المساهمون: IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique, Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 0026-2714.
مصطلحات موضوعية: Laser testing, Modelling, GaN HEMT, Radiation effects, Single event effects, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic
Relation: hal-03766631; https://hal.science/hal-03766631; https://hal.science/hal-03766631/document; https://hal.science/hal-03766631/file/ESREF_2021_final_paper_Rev3.pdf
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10Academic Journal
المؤلفون: Peña Fernández, Manuel, Lindoso Muñoz, Almudena, Entrena Arrontes, Luis Alfonso, Lopes, Israel C., Pouget, Vincent
المساهمون: Comunidad de Madrid
مصطلحات موضوعية: ARM, Error diagnosis, Fault tolerance, Laser fault injection, Microprocessor trace, Electrónica, Ingeniería Mecánica
Relation: Comunidad de Madrid. IND2017/TIC-7776; Gobierno de España. PID2019-106455GB-C21; Peña-Fernández, M., et al. Microprocessor error diagnosis by trace monitoring under laser testing. In:IEEE transactions on nuclear science, 68(8), Aug. 2021, Pp. 1651-1659; 1558-1578 (online); http://hdl.handle.net/10016/35163; 1651; 1659; IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE; 68; AR/0000028793
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11Periodical
المؤلفون: Sacristan Barbero, Mario, Slipukhin, Ivan, Cecchetto, Matteo, Prelipcean, Daniel, Aguiar, Ygor, Bilko, Kacper, Emriskova, Natalia, Waets, Andreas, Coronetti, Andrea, Kastriotou, Maria, Cazzaniga, Carlo, Dodd, Torran, Saigne, Frederic, Pouget, Vincent, Garcia Alia, Ruben
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science; August 2024, Vol. 71 Issue: 8 p1557-1564, 8p
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12ConferenceWorst Case Heavy Ion Testing Conditions for Normally Off GaN-Based High Electron Mobility Transistor
المؤلفون: Sauveplane, Jean-Baptiste, Chabot, C., Ngom, Catherine, Orsatelli, M., Guttierez-Galeano, A., Marcault, E., Pouget, Vincent, Zerarka, Moustafa, Matmat, Mohamed
المساهمون: Centre National d'Études Spatiales Toulouse (CNES), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique
المصدر: Proceedings of RADECS 2023 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) ; https://hal.science/hal-04308661 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2023, Toulouse, France
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
الاتاحة: https://hal.science/hal-04308661
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13Conference
المؤلفون: Rizk, Hiba, Ngom, Catherine, Pouget, Vincent, Michez, Alain, Lachaud, Frederic, Le Morvan, Gilles, Miller, Florent, Zerarka, Moustafa, Perrotin, Olivier, Coccetti, Fabio
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique, NUCLETUDES Les Ulis
المصدر: Proceedings of RADECS 2023 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) ; https://hal.science/hal-04308635 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2023, Toulouse, France
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
الاتاحة: https://hal.science/hal-04308635
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14Conference
المؤلفون: Pouget, Vincent
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC)
المصدر: RADECS 2023 Short Course ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) Short Course ; https://hal.science/hal-04308570 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) Short Course, Sep 2023, Toulouse, France ; radecs2023.com
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
الاتاحة: https://hal.science/hal-04308570
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15Conference
المؤلفون: Fongral, Matthieu, Pouget, Vincent, Saigné, Frédéric, Ruffenach, Marine, Carron, Jérôme, Malou, Florence, Mekki, Julien
المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), Centre National d'Études Spatiales Toulouse (CNES)
المصدر: Proceedings of RADECS 2023 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) ; https://hal.science/hal-04308603 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2023, Toulouse, France
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
الاتاحة: https://hal.science/hal-04308603
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16Conference
المؤلفون: Sacristan Barbero, Mario, Slipukhin, Ivan, Prelipcean, D., Aguiar, Y., Emriskova, N., Waets, A., Coronetti, Andrea, Kastriotou, M., Cazzaniga, Carlo, Dodd, T., Saigné, Frédéric, Pouget, Vincent, García Alía, Rubén
المساهمون: CERN Genève, Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), Science and Technology Facilities Council (STFC)
المصدر: Proceedings of RADECS 2023 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) ; https://hal.science/hal-04308693 ; European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2023, Toulouse, France
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
الاتاحة: https://hal.science/hal-04308693
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17Academic Journal
المؤلفون: Aguiar, Y.Q., Wrobel, Frédéric, Autran, Jean-Luc, Leroux, Paul, Saigné, Frédéric, Pouget, Vincent, Touboul, Antoine
المساهمون: Université de Montpellier (UM), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven)
المصدر: ISSN: 2226-4310 ; Aerospace ; https://hal.umontpellier.fr/hal-03129193 ; Aerospace, 2020, 7 (2), pp.12. ⟨10.3390/aerospace7020012⟩.
مصطلحات موضوعية: Monte Carlo simulation, single-event effects, radiation-hardening-by-design techniques, standard-cell design methodology, signal probability, MC-Oracle, [SPI]Engineering Sciences [physics], [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Relation: hal-03129193; https://hal.umontpellier.fr/hal-03129193; https://hal.umontpellier.fr/hal-03129193/document; https://hal.umontpellier.fr/hal-03129193/file/aerospace-07-00012-v2.pdf
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18Academic Journal
المؤلفون: Rajkowski, T., Saigné, Frédéric, Pouget, Vincent, Wrobel, F., Touboul, A., Boch, J., Kohler, P., Dubus, P., Wang, P. X.
المساهمون: 3D Plus, Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 0018-9499.
مصطلحات موضوعية: single event transients, laser tests, heavy ions tests, transient propagation, system-level tests, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Relation: hal-03671272; https://hal.science/hal-03671272; https://hal.science/hal-03671272/document; https://hal.science/hal-03671272/file/Rajkowski_al_2019.pdf
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19Conference
المؤلفون: Quadros de Aguiar, Ygor, Wrobel, Frédéric, Autran, Jean-Luc, Leroux, Paul, Saigné, Frédéric, Touboul, Antoine, Pouget, Vincent
المساهمون: Radiations et composants (RADIAC), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven)
المصدر: RADECS 2018 Proceedings ; IEEE RADECS2018 ; https://hal.science/hal-02086422 ; IEEE RADECS2018, Sep 2018, Goteborg, Sweden
مصطلحات موضوعية: Complex-logic gate, Heavy ions, Logical Masking, Monte-Carlo simulation, Single-Event Transient, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Relation: hal-02086422; https://hal.science/hal-02086422; https://hal.science/hal-02086422/document; https://hal.science/hal-02086422/file/AGUIAR_RADECS2018_v1.pdf
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20Conference
المساهمون: Universidade Federal do Rio Grande do Sul Porto Alegre (UFRGS), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (TEST), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM)
المصدر: 24th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
IOLTS: International On-Line Testing Symposium
https://hal.science/hal-02095642
IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2018, Platja d'Aro, Spain. pp.291-294, ⟨10.1109/IOLTS.2018.8474122⟩
http://tima.univ-grenoble-alpes.fr/conferences/iolts/iolts18/مصطلحات موضوعية: Fault tolerance, Approximate computing, Laser, Fault injection, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
جغرافية الموضوع: Platja d'Aro, Spain
Relation: hal-02095642; https://hal.science/hal-02095642; https://hal.science/hal-02095642/document; https://hal.science/hal-02095642/file/IOLTS2018_paper.pdf